ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Обнаружение следов элементов из "Эмиссионный спектральный анализ Том 2" Как уже отмечалось (разд. 5.2.1), чувствительность спектрографического обнаружения элементов (точнее, величина предела обнаружения, разд. 5.2.5) зависит не только от химического состава и физического состояния анализируемой пробы, но и в значительной степени от используемого аналитического метода. Поэтому в ходе общего анализа неизвестных или мало известных материалов (разд. 5.2.2) не всегда удается достичь самых низких пределов обнаружения отдельных элементов. Наоборот, при определении следов некоторых элементов в известной матрице можно выбрать аналитический метод и его параметры такими, чтобы обеспечить благоприятные условия для определяемых элементов даже в ущерб другим элементам, присутствующим в анализируемой пробе. Одно из главных преимуществ спектрографического анализа следов элементов состоит не столько в том, что обычно можно создать оптимальные условия обнаружения отдельного элемента, а в том, что часто для некоторых групп элементов удается подобрать благоприятные условия их одновременного обнаружения. [c.30] При определении следов элементов, т. е. при обнаружении следов элементов в присутствии большого в (10 —10 раз) избытка основных компонентов [7], количества пробы обычно достаточно как для основных операций спектрального анализа, так и для операций, направленных на снижение относительного предела обнаружения. Для достижения этой цели следует увеличивать разрешающую силу спектрографа и продолжительность экспозиции, а также применять мелкозернистые и контрастные эмульсии (см. ниже). Вследствие высокой селективности спектрального анализа относительный предел обнаружения некоторых элементов в различных материалах можно довести до 10 % при обычном дуговом возбуждении и до 10 % при использовании специальных методов [5]. [c.31] Если предел обнаружения прямых спектрографических методов не удается снизить до нужного уровня, а проба имеется в достаточном количестве, то применяют способы концентрирования следов (разд. 2.2.7, 2.3.6 и 2.4.2). Для этого, очевидно, необходимы дополнительное время и трудозатраты. Кроме того, возрастает вероятность загрязнения пробы. [c.31] Предел обнаружения можно значительно уменьшить, если возбуждать спектры при пониженном давлении (разд. 3.2.6). Для обнаружения трудновозбудимых элементов пригодны только разряд в полом катоде и тлеющий дуговой разряд. Для их применения требуются специальное оборудование и методики. [c.32] Вследствие высокой стабильности возбуждения плазменные и пламенные аэрозольные методы часто предпочтительны при определении следов элементов. Однако они подходят для анализа только больших количеств порошковых и жидких проб (разд. 3.3.6 и 3.4.5). [c.32] При обнаружении следов элементов дуга переменного тока имеет равные возможности с дугой постоянного тока. По сравнению с дугой переменного тока при силе тока 8 А (при использовании буфера ЫаС1) [6] высокоинтенсивная импульсная дуга (в аргоновой атмосфере) снижает на порядок предел обнаружения только тех элементов, аналитические линии которых имеют высокие энергии возбуждения (2п, N1, Со). Затухающий искровой разряд низкого и среднего напряжений (спектрометрический анализ) также пригоден для обнаружения следов элементов. По сравнению с дуговым возбуждением высоковольтное искровое возбуждение проигрывает в абсолютном и относительном пределах обнаружения на 1—2 порядка [5]. Поэтому искровое возбуждение используется только для обнаружения элементов с пределом 10 —10 % и главным образом для достижения высокой точности анализа металлов и растворов. [c.32] Лазерное возбуждение для обнаружения элементов можно рассматривать только в качестве микрометода (разд. 3.2.9). Это обусловлено тем, что оно обеспечивает высокий относительный и чрезвычайно низкий абсолютный пределы обнаружения. При применении лазерного возбуждения в сочетании со вспомогательной искрой и при испарении 10 г материала пробы большинство элементов обнаруживаются в количестве 10 г. [c.32] ДОВ элементов примерно на порядок. Увеличение чувствительности обнаружения особенно существенно в видимой области спектра, поскольку оптимальное почернение фона (5 opt) в соответствии с со-отнощением S opt = у/5,4 зависит от наклона характеристической кривой эмульсии (y) [14]. [c.34] Вернуться к основной статье