ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Спектральный анализ только селектором из "Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей" Если бы не было так трудно уменьшить разбросы амплитуд, появилась бы возможность замены кристаллов амплитудными селекто(рами при разложении рентгеновских лучей в спектр с целью определения состава образца. При разложении лучей в спектр с помощью брэгговского отражения (см. 4.9) потери интенсивности велики вследствии коллимации пучка и большого расстояния от образца до детектора (см. 4.16). Если выделение спектральных линий осуществлять амплитудным селектором, образец может быть помещен очень близко от детектора, благодаря чему резко возрастет интенсивность аналитической линии (и фона). Так как всегда можно ввести поправку на частичное наложение соседней линии, если ее интенсивность известна, то нет необхо димости, чтобы селектор шолностью разрешал близкие спектральные линии. Однако удовлетворительные измерения такого рода требуют значительно более тщательной стабилизации источника питания детектора, чем это необходимо в других случаях. В настоящее время невозможно предсказать, насколько широко в дальнейшем будет проводиться замена кристаллов амплитудными селекторами, так как в этом направлении сделаны лишь первые шаги. Во всяком случае такая замена будет возможна не всегда. Она может быть перспективной, если рентгеновский спектр образца o tOiHt из сравнительно небольшого числа линий, далеко отстоящих друг от друга. Чем больше расстояние между линиями, тем лучше, но всегда эти расстояния должны быть ке меньше, чем для линий одной серии рентгеновских спектров элементов, отличающихся на несколько атомных номеров. Метод амплитудной селекции прежде всего может быть применен для контроля производственных процессов и в ряде других простых задач, требующих быстрого реагирования или высокой интенсивности. [c.78] Вернуться к основной статье