ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Типы источников света из "Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов" Приведенный пример показывает, что результат измерения температуры почти не зависит от максимальной температуры разряда. Наряду с этим наблюдается зависимость от способа отображения источника на щель. [c.205] Если бы мы измеряли температуру того же самого разряда на другой паре линий, то основное излучение исходило бы из слоя с другой температурой, и результат измерения температуры отличался бы от приведенного выще. Таким образом, при неравномерном распределении температуры ее измерения по различным парам линий заведомо дадут различные результаты. Такая же картина наблюдается и при измерении температуры по молекулярным полосам. [c.205] Для измерений температур наиболее часто используются дуговые линии, так как их параметры изучены гораздо полнее, чем параметры искровых линий. Измеренная по дуговым линиям температура разряда конденсированной искры не превышает 10 000° К. Использование для ее измерений линий с высокими потенциалами возбуждений и линий однократно и многократно ионизованных атомов позволяет зарегистрировать значительно более высокие температуры. [c.205] В тех случаях, когда можно быть уверенным, что основной вклад в расширение линий вносится эффектом Допплера, измерение ширины контура также может служить для определения температуры плазмы. Чаще всего это имеет место в неравновесной плазме низкого давления, где этим методом можно оценить только температуру самого газа (кинетическая температура), которая обычно значительно ниже температуры электронов, определяющей интенсивности спектральных линий. [c.205] Вернуться к основной статье