ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла из "Основы структурного анализа химических соединений" Трансляционная система кристалла играет определяющую роль в геометрии дифракционного эффекта, возникающего при прохождении рентгеновских лучей через кристалл. Параметры и другие характеристики решетки входят во все основные формулы рентгеноструктурного анализа. Поэтому следует познакомиться с некоторыми вспомогательными понятиями и обозначениями решетчатой кристаллографии . К таковым относятся понятия узловых рядов и узловых сеток и вспомогательный образ —обратная решетка. [c.8] Индексы узловых сеток. В любой решетке можно провести множество серий узловых сеток разной ориентации (рис. 2, б). Каждая серия характеризуется своим наклоном к координатным осям и своим межплоскостным расстоянием. [c.9] как и ранее, считать, что оси X, У я Z выбраны так, что параллелепипед, построенный на параметрах а, Ь, с, остается пустым — не содержит дополнительных узлов ни в своем объеме, ни на гранях. Такую решетку называют примитивной. [c.9] Докажем следующее важное положение в примитивной решетке индексы любой серии сеток (hkl) суть числа, не имеющие общего множителя. [c.10] Сетка является узловой, т. е. проходит через некоторые точки с координатами та, у=пЬ, г=рс, где т, п, р — целые числа. Следовательно, должно удовлетворяться равенство тк- -пк+р1= с целочисленными т, п, р я К к. I. Это возможно лишь при условии, что тк, пк и р1, а следовательно, и к, к, I не имеют общего множителя. [c.10] Эти формулы имеют практическое значение. Они позволяют определять индексы узловых сеток и параметры решеток по межплоскостным расстояниям, найденным из рентгенограмм (см. с. 59). [c.11] Вернуться к основной статье