ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Электронная микроскопия и микродифракция из "Рентгенографический и электроннооптический анализ Издание 2" Обратную решетку пластинчатой текстуры можно представить как совокупность коаксиальных окружностей — результат вращения точечной решетки монокристалла вокруг оси, соответствующей оси текстуры (рис. 143). [c.254] Если текстура не идеальна, то в обратном пространстве вместо системы окружностей должны быть кольца, щирина которых определяется рассеянием текстуры (а). Появление набора кольцевых отражений на электронограмме при прямой съемке можно объяснить рассеянием текстуры. При анализе электронограммы косой съемки (при значительном, наклоне оси первичного пучка электронов по отношению к оси текстуры) целесообразно учесть, что коаксиальные кольца в обратном пространстве могут группироваться в систему коаксиальных цилиндров, пересечение которых поверхностью сферы отражения должно дать эллипсы — точнее точки или дужки, группирующиеся по эллипсам (рис. 144, а). [c.254] Для получения электронограммы косой текстуры при съемке на просвет необходимо повернуть препарат вокруг горизонтальной оси на угол ф, достаточный для того, чтобы выявились текстурные максимумы. [c.256] Измеренные таким образом углы сравнить с углами между вертикальной осью и прямыми, проходящими через нулевой рефлекс (центральное пятно) и соответствующими рефлексами электронограммы (можно ограничиться наложением схемы на кальке и электронограм-ыы). Таким образом определяют правильность анализа рефлексов электронограммы и, следовательно, правильность выбора оси текстуры. [c.257] Любой электронный микроскоп может быть использован как электронограф. В современных микроскопах переход от наблюдения микроскопической картины к наблюдению дифракционной картины совершается изменением режима работы проекционной системы прибора. При этом можно получить картину дифракции с участка объекта размером около 1 мк . Получение дифракционной картины, соответствующей участку микроскопической картины объекта (электронная микродифракция), является одним из самых важных средств структурного анализа материалов. [c.257] При исследовании гетерогенных сплавов разрешение микроскопа реализуется, если используют отпечатки с фиксированными частицами исследуемых фаз. [c.258] Наиболее полное использование электронного микроскопа возможно при непосредственном изучении структуры металлов, приготовленных в виде тонкой ( 0,1 мк) фольги. [c.258] При изучении кристаллических объектов дифракция электронов определяет контрасты электронномикроскопического изображения. В связи с этим становится возможным выявление различных нарушений кристаллической структуры (субзерен, дефектов укладки, дислокаций). Таким образом, с помощью электронного микроскопа решаются не только задачи анализа морфологии микроструктуры, т. е. формы, размеров и расположения фаз и структурных составляющих, но и электроннодифракционный структурный и фазовый анализ, а также анализ дислокаций и других дефектов кристаллического строения. [c.258] Чаще всего объектами исследования в электронном микроскопе являются а) дисперсные порошки б) отпечатки (реплики) поверхности металлографических шлифов в) окисные пленки г) тонкие пленки, получаемые утонением массивных образцов металлов и сплавов д) тонкие слои вещества, образованные осаждением из пара, раствора и т. д. [c.258] Вернуться к основной статье