Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Если нет возможности найти деталь с мелкими эксплуатационными или производственными дефектами, то на деталь наносят искусственные мелкие дефекты, обычно невидимые невооруженным глазом и через лупу.

ПОИСК





Определение напряженности намагничивающего поля при контроле способом приложенного поля

из "Неразрушающий контроль Т4"

Если нет возможности найти деталь с мелкими эксплуатационными или производственными дефектами, то на деталь наносят искусственные мелкие дефекты, обычно невидимые невооруженным глазом и через лупу. [c.293]
Деталь контролируют по различным режимам намагничивания и добиваются четкого выявления искусственных дефектов. Режим, соответствующий четкому обнаружению искусственных дефектов, принимают за оптимальный. [c.293]
Этот способ приходится применять также при составлении заключений об эффективности методик магнитопорошкового контроля деталей, разрушившихся в процессе эксплуатации летательного аппарата или другого объекта. [c.293]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте