ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Дифракция рентгеновских лучей и электронов на кристаллах, содержащих когерентные выделения из "Теория фазовых превращений и структура твердых растворов" Искажения кристаллической решетки, вызванные когерентными выделениями новой фазы, приводят к диффузному рассеянию рентгеновских лучей и электронов, распределенному в непосредственной близости от узлов обратной решетки. Теоретические результаты, полученные в предыдущих параграфах, позволяют получить простые выражения для распределения интенсивностей диффузного рассеяния на картинах дифракции, справедливые в рамках кинематического приближения. Первые результаты такого рода были опубликованы в работе Хуанга [181]. В ней рассматривалось диффузное рассеяние, обусловленное точечным дефектом — дилатационным центром в упруго-изотропной среде. Более общие результаты были получены в [182], где учитывалась упругая анизотропия среды, и в [183, 184], где принималась во внимание произвольная геометрия перестройки кристаллической решетки при фазовом превращении и конечные размеры включений. [c.241] Первое слагаемое в эффективной амплитуде атомного рассеяния Ф (д, к) (27.15) связано с эффектом упругих искажений, инициируемых фазовым превращением. Оно определяется упругой анизотропией кристалла и геометрией перестройки кристаллической решетки. Слагаемое — /2 есть разность атомных факторов рассеяния включения и матрицы, фигурирующая в выражении для интенсивности рассеяния в отсутствие внутренних напряжений. [c.243] Выражение (27.22) представляет собой зависимость радиуса-вектора к = к п) изодиффузной поверхности, проведенной вокруг узла обратной решетки Н, от его направления п, т. е. уравнение поверхности, записанное в сферических координатах. [c.244] Знак плюс или минус в (27.23) выбирается таким образом, чтобы правая часть (27.23) была бы положительной. [c.245] Левая часть неравенства (27.27) характеризует величину смещения АЯ узла обратной решетки включения относительно узла обратной решетки Н матрицы, обусловленного структурной деформацией 6q. Правая часть — размеры узла обратной решетки включения и матрицы, определяемые интерференционной функцией Лауэ (27.16). Таким образом, неравенство (27.27) показывает, что размеры рефлексов включения и матрицы много больше, чем расстояние между ними в обратной решетке. Последнее означает, что рефлексы включения и матрицы перекрываются и, следовательно, включение и матрица рассеивают когерентным образом. В этой ситуации мы можем говорить о существовании некоторой слабо искаженной средней решетки сплава. В противоположном случае, когда знак неравенства (27.27) меняется на противоположный, т. е. [c.246] Интересно отметить, что эти условия зависят от индексов узлов обратной решетки Н. При высоких индексах отражения условие когерентности рассеяния включением и матрицей (27.27) может нарушаться. Можно вполне представить себе ситуацию, когда включения и матрица при низких индексах отражения рассеивают когерентно (распределение интенсивностей в рефлексах описывается выражением (27.14)), в то время как при высоких индексах отражения включения и матрица рассеивают некогерентно и их рефлексы в обратной решетке оказываются разделенными. [c.247] Таким образом, все результаты, полученные выше, относятся к той стадии распада, когда размеры включений достаточно малы для того, чтобы выполнялось неравенство (27.26) и, следовательно, не наблюдались отдельные рефлексы от выделения и от матрицы. [c.247] Вернуться к основной статье