ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Простейшая схема импульсного дефектоскопа из "Ультразвук и его применение в промышленности" Существует несколько совершенно различных по своей физической природе методов контроля материалов, позволяющих определять наличие внутренних дефех тов, расслоений, трещин и других нарушений однородности материала без его разрушения. К ним относятся рентгеновский метод, метод гамма-дефектоскопии, магнитный, люминесцентный и ультразвуковой методы. [c.83] Вспомогательные устройства п конструктивные особенности отдельных блоков дефектоскопа. В рассмотренной выше блок-схеме дефектоскопа не нашли отражения некоторые вспомогательные устройства и элементы имеющие место в современных схемах дефектоскопов. Остановимся на некоторых из них. [c.91] Для возможности определения размеров дефектов необходимо, чтобы импульсы, отраженные от одинаковых по величине дефектов, но лежащих на разных глубинах в испытуемом образце, фиксировались на экране электроннолучевой трубки дефектоскопа в виде импульсов одинаковой величины. С этой целью коэффициент усиления усилителя дефектоскопа увеличивается обратно пропорционально затуханию ультразвуковых колебаний в металле, что достигается соответствующим изменением напряжения на экранной сетке одной из ламп усилителя. Этот закон изменения усиления для большинства изделий с мелкозернистой структурой является практически приемлемым ввиду незначительного влияния поглощения и рассеяния ультразвука за счет неоднородностей структуры металла. В этом случае главную роль играет уменьшение принятой ультразвуковой энергии вследствие расхождения, расширения ультразвукового пучка от излучателя (см. формулу (58)) и от рассеивающей поверхности дефекта. [c.92] Иллюстрация работы ограничителя щупов ид—напряжение отсечки, 1—шумы и Л0ЖГ1Ые импульсы от структурных неоднородностей, 2—полезный отраженный сигнал. [c.96] Вернуться к основной статье