ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Фокусировка приборов с вогнутой решеткой из "Техника и практика спектроскопии" Фокусировка приборов с вогнутой решеткой. Большой астигматизм, присущий вогнутой решетке, заставляет особенно заботиться о точной установке щели параллельно штрихам решетки. [c.155] Добившись перемещением фокусирующего элемента наилучшего качества спектра, вращают щель до тех пор, пока не будет достигнут наиболее узкий инструментальный контур. В процессе юстировки нужно освещать всю щель по высоте. Если освещен небольшой ее участок, то качество изображения делается малочувствительным к повороту щели. [c.155] Фокусировка фотоэлектрических приборов. При фокусировке фотоэлектрических приборов, перемещая фокусирующий элемент и записывая контур подходящей спектральной линии, добиваются максимального отброса или, что то же самое, наиболее узкого контура. [c.156] Кроме обычной фокусировки в этом случае крайне важно установить выходную щель прибора параллельно изображению его входной щели, иначе ширина инструментального контура возрастает (рис. 5.26. а). Ширина инструментального контура увеличится и в том случае, если кривизна выходной щели отлична от кривизны спектральной линии (рис. 5.26, б). Это обстоятельство существенно отличает фотоэлектрические приборы от спектрографов, инструментальный контур которых, в особенности для стигматичных приборов, не зависит от кривизны и наклона спектральных линий. [c.156] Установку параллельности спектральных линий и щели удобно делать визуально. Для этого устанавливают микроскоп с увеличением 30 X — 40 X так, чтобы получить резкое изображение щечек выходной щели. Входную щель следует освещать источником сплошного спектра или сделать ее достаточно широкой. Ширину выходной щели устанавливают 0,05—0,1 мм. [c.156] Затем освещают входную щель, суженную до 0,01 мм, источником линейчатого спектра. Выводят изображение линии, по которой производится фокусировка, на середину выходной щели, передвигают фокусирующий элемент и, не смещая микроскопа, добиваются резкого изображения линии. Затем заменяют микроскоп лупой с увеличением 5х —7 X, в которую видна вся линия по высоте, после чего поворотом диспергирующего элемента перемещают спектр вдоль направления дисперсии. Линия при этом должна исчезать за щечкой щели одновременно по всей высоте. Разновременное исчезновение верхнего и нижнего краев указывает на непараллельность щели и линии. Если середина и края линии исчезают не одновременно, значит, кривизна выходной щели и линии не совпадают. В этом случае удается сузить инструментальный контур, ограничив действующую высоту щели, но очевидно, что при этом соответственно уменьшится поток, пропускаемый прибором. [c.156] В спектральных приборах, где сканирование спектра не предусмотрено, например в квантометрах, приходится брать выходную щель в 2—3 раза шире входной. При таком соотношении ширины выходной щели и спектральной линии инструментальный контур прибора уширяется, зато уменьшается его чувствительность к дефокусировке и небольшим смещениям спектра. [c.156] Е[ринцип действия. Разрешающая способность Я даже больших призменных приборов не превышает 10 —10 , а для приборов с дифракционными решетками — нескольких сот тысяч. Однако имеется широкий круг спектроскопических задач, для решения которых необходима значительно большая разрешающая способность. Так, при исследовании сверхтонкой и изотопической структуры спектральных линий необходимо разрешать компоненты линий, длины волн которых отличаются на 10 —10 А. Для этого необходимы приборы с разрешающей способностью 5-10 —5-10 Такие приборы называются приборами высокой разрешающей силы. Их действие основано на использовании многолучевой интерференции. [c.157] Здесь следует отметить, что первые работы по исследованию структуры спектральных линий были выполнены Майкельсоном с помощью двухлучевого интерферометра. При больших разностях хода между интерферирующими пучками в интерферометре Майкельсона системы интерференционных полос, соответствующие различным компонентам спектральных линий, оказываются смещенными друг относительно друга. В результате этого при перемещении одного из зеркал интерферометра периодически меняется контраст интерференционной картины. Изучая закономерности изменения контраста полос, Майкельсон исследовал структуру ряда спектральных линий Из, N3, С(1, Т1 и Hg. В настоящее время метод Майкельсона послужил основой для создания фурье-спектрометров (см. гл. 8). [c.157] Из рассмотренных нами ранее приборов на принципе многолучевой интерференции основано действие дифракционной решетки (см. гл. 2). Однако между действием дифракционной решетки и приборов высокой разрешающей силы имеются и существенные различия, что оправдывает выделение этих приборов в отдельную главу. [c.157] При исследовании многолинейчатых спектров вследствие малой величины свободного спектрального интервала приходится скрещивать приборы высокой разрешающей способности с призменными или дифракционными спектральными приборами. [c.158] В настоящее время известно три основных типа приборов высокой разрешающей силы. Все они названы по имени их изобретателей пластинка Люммера и Герке, которую иногда называют пластинкой Люммера, эшелон Майкельсона и эталон, или интерферометр, Фабри — Перо. [c.158] Из этих трех типов приборов пластинка Люммера и эшелон Майкельсона сейчас применяются редко. Их вытеснил интерферометр Фабри — Перо, который не только более дешев и удобен в работе, но и обладает большей светосилой, чем два остальные. Поэтому мы уделим основное внимание эталону Фабри — Перо. Более полные сведен1ия о всех приборах высокого разрешения можно найти в [21, 22]. [c.158] ДЛЯ воздушной пластинки получаются из формул (6.4) — (6.18), если в них положить г = 1 и п/йХ = 0. [c.161] На первый взгляд пластинка Люммера — Герке представляется очень простым прибором, однако трудности получения достаточно однородной и длинной стеклянной пластинки, ее деформации, небольшое количество пропускаемого света и малая постоянная привели к тому, что она почти совершенно вышла из употребления. [c.161] Эшелон Майкельсона. Эшелон Майкельсона, или ступенчатая дифракционная решетка, был изобретен в 1898 г. и дал возможность изучать важные для того времени детали спектра. [c.161] Здесь h — толщина и I — ширина ступеней, п — показатель преломления, пластинок эшелона. [c.162] Условие образования интерференционного максимума при этом имеет вид. [c.162] Вернуться к основной статье