ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Классическая динамика кристаллической решетки Колебания простой решетки из "Физическая механика реальных кристаллов" Потенциал и (г) обладает периодичностью кристалла (он может быть, например, пропорциональным плотности электрического заряда в кристалле). [c.24] Соотношения (34) и (35) носят название уравнений Лауэ. [c.25] Условия Лауэ лежат в основе использования дифракции рентгеновских лучей, а также упругого рассеяния электронов и нейтронов для структурного анализа кристаллов. Фиксируя падающий на кристалл пучок и те направления, в которых распространяются вышедшие из кристалла волны (рис. 12), можно определить векторы В, т. е. определить узлы обратной решетки кристалла. А зная обратную решетку, нетрудно восстановить структуру кристалла. [c.25] Сравним теперь (36) с (4). Мы видим, что отражение от кристалла испытывают лишь те пучки, волновые векторы которых лея ат своими концами на границах зон Бриллюэна рассматриваемого кристалла (начало отсчета волновых векторов располагается в центре зон Бриллюэна). [c.26] Это соотношение известно как закон отражения Вульфа — Брэгга. [c.26] О дифракции, описываемой уравнением (39), иногда говорят как об отражении от соответствующих кристаллических плоскостей. [c.26] Изложенная элементарная геометрическая (или кинематическая) теория дифракции на кристалле применима только к изучению рассеяния в достаточно тонких кристаллических образцах. Дело в том, что она не учитывает постоянного взаимодействия падающего и дифрагированного лучей с последовательными атомными слоями при прохождении через относительно толстые образцы. [c.26] Вернуться к основной статье