Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Обеспечение необходимого уровня показателей надежности реализации функций системы — одно из важнейших требований, предъявляемых к АСУ ТП.

ПОИСК





Надежность системы Октан

из "Управление установками каталитического крекинга"

Обеспечение необходимого уровня показателей надежности реализации функций системы — одно из важнейших требований, предъявляемых к АСУ ТП. [c.169]
В процессе разработки системы Октан-М было проведено исследование надежности выполнения ряда функций системы, реализуемых на средствах вычислительной техники . [c.169]
Расчеты базировались на данных по надежности отдельных устройств, формирующих структуру вычислительного комплекса и на согласованных с технологами формулировках понятия отказа анализируемых функций. При определении показателей надежности была применена методика, изложенная в работе [139]. [c.170]
Основная идея методики заключается в использовании понятия простой схемы . Под простой схемой понимают модель взаимосвязанной совокупности устройств с восстановлением, для которой показатели надежности могут быть определены аналитически. Особенность этих схем состоит в том, что при быстром восстанов-ленпп (по сравнению с периодом между отказами элементов) функция распределения времени безотказной работы этих схем асимптотически сходится с экспоненциальной. Экспоненциальное распределение характеризуется только интенсивностью отказов, к, — величиной обратной времени наработки на отказ. [c.170]
Существо методики состоит в декомпозиции структуры техни ческих средств, реализующих каждую конкретную функцию, на совокупность простых схем , соединенных последовательно в смысле надежности. [c.170]
Перечень простых схем и формулы для расчета их надежности приведены в работе [140]. Ниже даются взятые из этого перечня простые схемы (и соответствующие формулы), которые были использованы при расчете показателей надежности отдельных функций АСУ ТП ОктаН М . [c.170]
В приведенных выражениях использованы следующие обозначения То — среднее время наработки на отказ, ч А, — интенсивность отказов, ч [1 — интенсивность восстановления, ч к — допустимое время отказа устройства, ч. [c.171]
При определении показателей надежности применяли следующую последовательность операций. Прежде всего на языке технологов формулировали понятие отказа функции. Это наиболее сложный этап, поскольку даже самые опытные технологи часто не в состоянии предложить однозначную формулировку отказа. [c.171]
Следующий этап — интерпретация формулировки отказа в терминах используемой аппаратуры. Для этого составляется блок-схема, представляющая собой совокупность устройств, которые реализуют конкретную функцию, и устанавливается, какие варианты выхода оборудования из строя эквивалентных исходной технологической формулировке понятия отказа функции. [c.171]
Далее производится последовательная декомпозиция технической структуры на простые схемы с одновременным вычислением интенсивностей отказов. [c.171]
Проиллюстрируем сказанное на примере функции сбора, обработки и автоматической регистрации переменных на бланке Режимного листа оператора . [c.171]
Поскольку не удалось иредложить единственную формулировку понятия отказа этой функции, введено несколько формулировок, различающихся количественными характеристиками, и рассчитано время наработки на отказ по каждой из этих формулировок. [c.171]
Как отмечалось выше, РЛО печатается один раз за 8 ч в конце каждой смены и содержит 8 строк с усредненной за час информацией о технологических переменных. Отказом функции может являться отсутствие напечатанного РЛО по истечении определенного периода времени после окончания смены и (или) отсутствие в РЛО какого-то количества информации. [c.171]
Были рассмотрены четыре варианта отказа функций (табл. [c.171]
В реализации рассматриваемой функции участвуют ядро вычислительного комплекса, подсистема аналогового ввода, устройство параллельной печати. [c.172]
Варианты блок-схемы ядра вычислительного комплекса показаны на рис. У-11. Функция может быть реализована как на одном, так н на двух вычислительных комплексах (ВК), один из которых находится в нагруженном резерве при этом может использоваться память на магнитных дисках. В схеме учтено то обстоятельство, что информация, используемая в задаче хранится в двух кубах УОП, емкостью 32 К каждый. На схеме в прямоугольниках указаны соответствующие каждому элементу значения интенсивности отказов. [c.172]
При работе одного ВК с магнитными дисками. . [c.172]
При работе двух ВК в нагруженном резерве. . [c.172]
Временное резервирование ядра допускается третьим и четвертым вариантом формулировок отказов (см. табл. V. ). [c.173]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте