ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Основные закономерности строения кристаллов из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Глава 2. Симметрия кристаллов. [c.3] Глава 6. Рассеяние рентгеновских лучей кристаллами. Основ ные уравнения дифракции. [c.3] Развитие металлургии в настоящее время в соответствии с решениями XXVI съезда КПСС направлено прежде всего на повышение качества металлических материалов и эффективности их использования. [c.7] Исследования структуры металлов и сплавов с помощью современных дифракционных методов позволяют выявить ресурсы улучшения механических и других эксплуатационных характеристик материала. Требования практики, с одной стороны, и развитие рентгеновских и электроннооптических методов, с другой, приводят к тому, что методы анализа структуры оказываются не только методами исследования, но и методами контроля качества металлических материалов, а также технологических процессов их получения и обработки. [c.7] Курс Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия для подготовки инженеров-металлур-гов по специальностям Физика металлов , Физико-химические исследования металлургических процессов и Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов включает дисциплину фундаментального характера — кристаллографию, теорию и практику методов анализа атомно-кристаллической структуры вещества — рентгенографический, электронографический анализы, электронную микроскопию и примыкающие к ним методы анализа элементного (химического) состава вещества, т. е. рентгеноспектральный анализ, электронную и ионную спектроскопию. [c.7] Центральной частью курса является изучение основ общей теории дифракции на трехмерной кристаллической решетке. Все и зложение ведется с помощью понятий обратной решетки, которая вводится как физическая реальность — проявление определенной группы свойств кристаллов — наряду с ранее рассмотренным понятием кристаллической решетки. Обсуждение особенностей дифракции разного вида излучений — рентгеновских лучей, нейтронов и электронов — дается как на основе феноменологического описания соответствующих физических явлений, так и на основе квантово-механической теории. [c.8] Последние главы этой части курса, посвященные конкретным методам анализа материалов (например, прикладной рентгеноструктурный анализ), содержат не только сам метод, но и рассматривают некоторые результаты, которые можно получить с его помощью и интерпретировать на основе теории метода. Это — анализ тонкой кристаллической структуры и ее изменений в процессе технологических воздействий, изучение кристаллической текстуры, а также исследование твердых растворов. [c.8] Таким образом, эта часть курса существенно дополняет специальные металлофизические и технологические дисциплины, связанные с изучением структуры ня разных уровнях —от атомного до микроскопического. [c.8] Растровая электронная микроскопия значительно уступает просвечивающей в получении кристаллографических характеристик, но имеет целый ряд преимуществ перед всеми другими способами микроскопического анализа. Среди них — возможность получения информации об элементном (химическом) составе вещества в точке и тонком поверхностном слое и о некоторых специфических свойствах поверхности. [c.9] Современные электронно-оптические приборы могут включать различные комбинации методов микроскопического и элементного анализа. [c.9] Подробно эти методы изучаются в курсах для инже-неров-исследователей (специальности 0406 и 0405). [c.9] Для проверки усвоения теоретического материала к каждой главе учебника, начиная с пятой, даны задачи и вопросы. Задачи, отмеченные звездочкой , заимствованы из Сборника задач по рентгеноструктурному анализу М. М. Уманского, 3. К. Золиной (изд-во МГУ, 1975). Справочные таблицы, необходимые для выполнения заданий учебника, а также решения ряда практических металловедческих задач приведены в приложении. [c.9] Дополнительная литература дана к каждому разделу. [c.9] I—4 написаны Л. Н. Расторгуевым, гл. 5—11 и 13—17 — Я. С. Уманским и А. Н. Ивановым, гл. 12 — Ю. А. Скаковым и Л. Н. Расторгуевым, гл. 18 — Я. С. Уманским и Ю. А. Скаковым, гл. 19—23 — Ю. А. Скаковым. В составлении гл. 23 принимала учас тие Н. П. Дьяконова. [c.9] Исследование же атомной структуры металла, причем на основании прямых экспериментальных данных, стало возможным лищь после установления способности рентгеновских лучей дифрагировать на кристалле. Кристаллографы, ранее пользовавшиеся физическими свойствами для оценки симметрии и атомного строения кристалла, впервые оказались в состоянии предвидеть свойства материала по его симметрии и структуре, что вывело кристаллографию на передний край наук о твердом теле. Взаимосвязь современной кристаллографии с науками о твердом теле может быть примерно представлена нижеследующей схемой (рис. 2, а), которую полезно сравнить со схемой связей кристаллографии с естественными науками в конце XVI вив середине XIX вв. (рис. 2, б и б). [c.14] Вернуться к основной статье