ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Классификация способов микроскопии и принцип растровой микроскопии из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Чтобы получить точечный источник лучей большой интенсивности для теневого (проекционного) изображения несамосветящихся объектов, можно использовать линзовую систему (рис. 22.1, б). Такая схема применяется, например, в электронографе для получения микроскопических теневых изображений объекта при увеличениях 10—100. Самостоятельное значение имеет эта схема в конструкции теневого рентгеновского микроскопа. [c.549] Чтобы получить информацию о микроструктуре достаточно большой области, которая представляла бы характерную структуру объекта, ответственную за интересующие нас макроскопические физические или механические свойства, зонд заставляют обегать (сканировать) заданную площадь объекта по заданной программе (движется луч по строчкам, образующим квадрат, круг и т. д.)1. [c.551] Вернуться к основной статье