ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Определение изотопного состава методом раскомпенсации из "Прецизионный масс-спектрометрический метод определения изотопного состава серы" В связи с важностью получения достоверных результатов изотопного состава природных образцов с высокой точностью масс-спектральный анализ методом раскомпенсации вызывает интерес у исследователей и с теоретической точки зрения, и в практическом осуществлении. В то же время из-за отсутствия соответствующей информации далеко не все занимающиеся изотопными анализами и их интерпретацией для выяснения геохимических закономерностей могут полностью разобраться в характерных особенностях и возможностях этого метода. [c.40] Кратко рассмотрим техническую сторону проведения изотопного анализа методом раскомпенсации, предложенном американскими экспериментаторами [42]. Авторы снабдили масс-спектрометр специальной системой, которая состоит из двух напускных каналов (в одном помещается стандартный газ, в другом — исследуемый образец) и клапанной системы, позволяющей вводить в ионный источник попеременно стандарт и образец. Сначала в прибор поступает стандартный газ. На коллекторах ионного приемника одновременно фиксируются интенсивности ионных токов, соответствующие двум исследуемым изотопам напряжения, пропорциональные ионным токам, подаются на компенсационную электрическую схему, и на регистрирующем записывающем устройстве (самописце) фиксируют нуль-линию. Затем стандарт заменяют исследуемым образцом, причем газовый поток стандарта и образца в ионный источник должен быть одинаковым, о чем судят по совпадению интенсивностей, соответствующих более распространенному изотопу. Если образец имеет отличный от стандарта изотопный состав, то происходит раскомпенсация электрической схемы, и перо самописца смещается от нулевого положения, выписывая новую линию. Разность между линиям стандарта и образца пропорциональна отличию их изотопных составов. Эту разницу можно прокалибровать в процентах, выводя систему из положения баланса на определенную величину изменением калибровочных сопротивлений компенсационной схемы. [c.40] Авторы приводят результаты измерений разницы в изотопном составе с точностью 0,01—0,02%. Они опубликовали принципиальную схему налускной системы и компенсационную схему (рис. 11), ло не указали некоторые важные параметры применяемых приборов, влияющих на точность измерения, не затронули тонкостей методики, знание которых необходимо при измерении. Зарубежные исследователи использовали также приборы — динамический конденсатор и самописец с высокоомным входом, которые наша промьш]ленность не выпускает. [c.41] Вернуться к основной статье