ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Отражение рентгеновских лучей электронами, атомами и кристаллами из "Нестехиометрические соединения" Фундаментальные константы имеют их обычные значения. Для вытянутого электронного облака, заданного функцией вероятности распределения, отражение можно считать пропорциональным электронной плотности в каждой точке. [c.45] В атоме, содержащем 2 электронов, амплитуда отраженной волны для очень малых или нулевых углов отражения равна гЛ. При увеличении угла отражения (20) эта амплитуда будет быстро уменьшаться вследствие интерференции. В том случае, если электронам можно придать определенные положения в атомах, результирующую амплитуду можно рассчитать с помощью методов, которые изложены выше. Действительный фактор отражения / будет зависеть от сред него распределения электронов в атоме, которое в настоящее время можно рассчитать довольно точно. На основании этих распределений были рассчитаны атомные факторы отражения, или /-кривые. Эти факторы быстро уменьшаются с увеличением угла отражения. Кривые табулированы для многих атомов [17]. [c.45] Если структура кристалла расшифрована и определены средние положения атомов, то температурный фактор, а следовательно, и характер теплового движения каждого атома можно найти путем сравнения наблюдаемых факторов отражения (/-кривых) с вычислен-НШ1И но теоретическим распределениям электронов. [c.45] Вернуться к основной статье