ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Схема атомного абсорбционного метода Уолша из "Атомно-абсорбционный спектральный анализ" Насколько предпосылки, положенные в основу этого метода измерения поглощения, выполняются в реальных условиях, мы обсудим позднее. Сейчас же необходимо отметить, что в принципе непосредственное измерение коэффициента поглощения в определенной точке контура линии значительно упрощает методику определений и расчет результатов анализа, поскольку коэффициент поглощения в этом случае пропорционален концентрации атомов в поглощающем слое независимо от того, какими причинами обусловлена форма контура. Поэтому для аналитических целей предложенный Уолшем метод безусловно предпочтительнее описанных выше методов измерения интегрального коэффициента поглощения или полного поглощения. [c.38] Действительно, определение интегрального коэффициента поглощения требует применения приборов высокой разрешающей силы, позволяющих регистрировать контур атомных линий. Измерение интеграла связано с фотомет-рированием контура всей линии и графическим интегрированием, что существенно осложняет и удлиняет процедуру измерений. Определение полного поглощения не требует применения высокоразрешающей аппаратуры, и измерительная операция проста. Однако величина полного поглощения в зависимости от интервала определяемых оптических плотностей различным образом связана с концентрацией атомов, причем вид этой зависимости (положение кривых роста ) определяется условиями опыта, в частности величиной а = (Ау /Ауд) ]/1п2. Кроме того, как мы увидим далее, чувствительность метода при использовании источника непрерывного спектра на два порядка ниже, чем при использовании линейчатого источника света. [c.38] Различие результатов при а=0,5 составляет 8%, а при а = 2,0 —около 34%. [c.41] Приведенные здесь формулы для коэффициента поглощения справедливы только для монохроматичных сигналов и одиночных линий поглощения. [c.42] Рассмотрим, насколько справедливыми являются эти предположения в реальных условиях измерений. [c.42] Линии испускания в газоразрядных лампах низкого давления в принципе должны быть уже линий поглощения в пламени. Действительно, лорентцевское уширение линий при давлении инертного газа в несколько миллиметров ртутного столба на два порядка меньше, чем при давлении 1 атм (в пламени), а допплеровская полуширина линий при температуре 500°К (температура не-охлаждаемого полого катода при небольших силах тока через разрядную лампу) в 2,2 раза меньше, чем в пламени при 2500° К. Поэтому при учете только этих факторов уширения линий указанные выше предпосылки представляются Б достаточной мере оправданными. [c.42] Однако при использовании в качестве источников света ламп с полым катодом нельзя не учитывать эффект самопоглощения резонансных линий внутри лампы, который иногда приводит к заметному уширению линий. Кроме того, для многих элементов существенно сверхтонкое расщепление резонансных линий. В табл. 8 приведены величины сверхтонкого расщепления для некоторых резонансных линий [42]. [c.42] И речи, так как излучаемая резонансная линия представляет набор компонент сверхтонкой структуры с весьма произвольным распределением интенсивности, зависящим от условий разряда. [c.43] Фактическая величина оптической плотности Ох будет представлять результат поглощения обеих компонент, т. е. [c.44] В табл. 9 приведены результаты расчета коэффициентов р в зависимости от х при различных величинах О. [c.44] По существу эти кривые соответствуют реальным градуировочным графикам, так как величины О (для монохроматичной линии) пропорциональны концентрации атомов в поглощающем слое. [c.45] Из рассмотрения полученных результатов можно сделать следующий вывод увеличение степени немоно-хроматичности линии излучения должно вести к уменьшению величины поглощения (т. е., в конечном итоге, к уменьшению чувствительности измерений) и отклонению от пропорциональности между оптической плотностью и концентрацией атомов в поглощающем слое. [c.45] Лорентцевская полуширина линий поглощения Луь в среднем составляет 0,1 см (табл. 7). Интервал участка сплошного спектра Лv, выделяемый для измерений, зависит от характеристик спектрального прибора и мощности излучения источника. В обычных условиях измерений его величина не превышает 1 А, что соответствует при ХЗООО А Av=10 слгК При указанных параметрах чувствительность измерений со сплошным источником оказывается на два порядка ниже, чем с линейчатым. [c.46] Проведенный расчет чувствительности измерений и формы градуировочных графиков для излучателя сплошного спектра относился к прямоугольному участку сплошного спектра, выделяемому монохроматором (входная щель значительно уже выходной). В случае треугольного распределения интенсивности в выделенном участке спектра чувствительность измерений оказывается приблизительно вдвое выше, чем в случае прямоугольного (спектральный интервал Av предполагается одинаковым). Все остальные выводы остаются справедливыми независимо от формы выделяемого интервала сплошного спектра. [c.47] Вернуться к основной статье