ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Пробоотбор для анализа полупродуктов и готовой продукции из "Эмиссионный спектральный анализ Том 1" Пробы полупродуктов и готовой продукции отбирают для количественных определений по размеру и массе в соответствии с образцами сравнения и согласно надлежащим инструкциям по про-боотбору. С помощью наждачного круга средней крупности (от 80 до 100) или наждачной бумаги (из корунда, если не определяется алюминий, и из карбида кремния, если не определяется кремний) анализируемой поверхности проб желательно придавать постоянную форму. Постоянство формы заточенной поверхности необходимо, так как иначе рабочие условия будут неодинаковыми. Например, вследствие того, что разрушение материалов на полированной поверхности — процесс очень медленный, источники света отличаются по интенсивности излучения для образцов, подготовленных к анализу различными способами. [c.14] Если продукция слишком велика по своим размерам, то разрешается предварительный пробоотбор путем резки в кислороде. Однако окончательные образцы должны быть отрезаны так, чтобы край образца находился по крайней мере в 30 мм от места кислородной резки. Предназначенные для анализа пробы должны быть подготовлены тем же способом, что и стандартные образцы. [c.14] ПОДХОДЯТ только те м тоды, в которых могут быть исключены перегрев или частичное испарение пробы. Пробы такого типа можно анализировать путем полного испарения в электрической дуге (разд. 3.2.3) способа и брикетирования, переплава или растворения (разд. 2.2.3). Стальные листы толщиной более 0,2 мм можно также анализировать, если их приварить к стальной подставке. Для серийног-) анализа продукции определенного типа могут быть применены Специальные методики [1. [c.15] Если возможна обработка фигурных образцов (прутков, листов, фасонной стали и т. д.), например, путем резки или снятия стружки, то при анализе следует отдать предпочтение методу точка к точке (разд. 3.2.1). После соответствующей обработки образцы, сделанные для механических исследований и уже испытанные (например, разломанные и разорванные), можно часто с успехом использовать для спектральных определений. Следует особое внимание обратить на чистоту условий этой обработки. Электродам должна быть придана такая форма, которая бы обеспечивала наиболее благоприятные условия испарения анализируемого материала и наименьщие возможности для перемещений в пространстве источника излучения (разд. 4.3.3). Фаски и закраины плоской поверхности должны быть удалены полировкой. [c.15] Если нельзя приготовить из анализируемого образца пару электродов, то следует применить метод точка к плоскости (разд. 3.2.2). Этот метод дает ряд дополнительных преимуществ. Исследуемая поверхность пробы должна быть обработана на токарном станке или на наждачном кругу так же, как и стандартные образцы. При отборе стружки или заточке на наждачном кругу не должны применяться ни смазочные, ни охлаждающие вещества. Скорость обработки проб должна быть достаточно низкой, чтобы исключить вредный локальный перегрев, изменения в структуре или окисление поверхности проб. Обработанную поверхность нужно защитить от загрязнения (например, от отпечатков пальцев) и окисления. [c.15] Вернуться к основной статье