ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Метод последних линий из "Эмиссионный спектральный анализ Том 2" Прежде всего необходимо, чтобы почернение фона легко наблюдалось. В этом случае величина концентрации, при которой исчезает спектральная линия, не будет зависеть, например, от чувствительности примененных пластинок, экспериментальных условий проявления и светосилы спектрографа. [c.47] В противоположность этому щирина щели спектрографа и его разрешающая сила оказывают влияние, так как разность почернений линий и фона неизбежно увеличивается с уменьшением ширины щели и увеличением разрешающей силы прибора. Интенсивность спектральных линий и, следовательно, почернений линий, за исключением случаев очень малой ширины щели (дифракция света), совершенно не зависит от ширины щели. В то же время интенсивность фона возрастает пропорционально ширине щели спектрографа. Фоновое излучение является частично непрерывным излучением. Поэтому количество световой энергии, падающее на место спектральной линии, тем больше, чем шире щель. Такое же объяснение можно дать и влиянию уменьшения разрешающей силы спектрографа на соотношение интенсивностей линии и фона. [c.47] Отсюда следует, что метод последних линий в основном пригоден для определения следов элементов. В этом случае в качестве аналитических линий можно использовать наиболее чувствительные, т. е. так называемые последние линии, которые исчезают позже других. [c.48] Поэтому точность этого метода зависит от числа использованных последних линий. При определении элементов с развитым спектром можно в принципе достичь более высокой точности, чем в случае элементов с простым спектром. Кроме того, относительная погрешность анализа зависит также от размера зерна фотоэмульсии и ее контрастности. Достигаемая относительная точность анализа даже в наиболее благоприятном случае не выше 10% (разд. 5.3.2). [c.48] Метод последних линий пригоден для полуколичественного анализа многих материалов, например для определения следов элементов в золе каменных углей [2]. [c.48] Вернуться к основной статье