ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Методы, основанные на измерении ширины спектральной линии из "Эмиссионный спектральный анализ Том 2" Методы, описанные в предыдущих разделах, основаны по существу на корреляции между отношением интенсивностей линий аналитической пары и концентрацией. Однако в некоторых случаях предпочтительнее для этого использовать вместо разности почернений линий аналитических пар корреляцию между разностью ширины аналитических линий и концентрацией определяемого элемента. Этот метод в основном необходим в том случае, когда почернение аналитических линий слишком велико, поскольку большие почернения (5 2) невозможно измерить с достаточной точностью. [c.63] Количественная оценка по ширине спектральных линий основана на корреляции между контуром линии и концентрацией. С ростом концентрации увеличивается не только высота, но и ширина контура спектральных линий (рис. 5.25). Таким образом, по ширине некоторых спектральных линий можно судить о составе анализируемого материала. Однако прежде с помощью образцов известного состава следует установить корреляцию между шириной линий и концентрацией элемента. [c.63] Собственный контур спектральных линий меняется вследствие дифракции, интерференции и дисперсии света в спектральном приборе. Различие между так называемым инструментальным и собственным контурами линии тем меньше, чем выше разрешающая сила прибора. [c.63] НОЙ дисперсии спектрального прибора. Так, различие между собственным и фотографическим контурами спектральных линий тем меньше, чем выше разрешающая сила и дисперсия применяемого спектрографа и чем меньше угол падения световых лучей на фотопластинку отличается от нормального. [c.64] Контур спектральных линий обычно имеет колоколообразную форму и не характеризует ширину линий. Эту трудность, однако, можно устранить, определяя ширину линии как разность длин волн двух выбранных точек на контуре линий с одинаковыми итенсивно-стями. В физике для этой цели обычно используют разность между длинами волн точек на контуре линий, имеющих интенсивность, равную половине максимальной интенсивности, или так называемую полуширину (рис. 5.26, а). [c.64] Аналитическую ширину линии определяют с помощью микрофотометра. Вначале подбирают величину максимального почернения линии сравнения. Для этого щирину щели фотометра устанавливают минимально возможной, при которой, однако, еще можно получить хорощо измеряемое отклонение гальванометра. Затем с обеих сторон линии определяемого элемента выбирают такие две точки, для которых отклонения гальванометра равны минимальному отклонению гальванометра для линии элемента сравнения. Расстояние между этими двумя точками, отсчитываемое по барабану микрометра, перемещающего спектральную пластинку, равно аналитической щирине линии. [c.65] Если при этом дисперсия спектрографа низка (т. е. прибор средней или низкой дисперсии), а интенсивность аналитических линий отностельно высока, то ширина линий изменяется линейно с логарифмом концентрации. В этом случае получается хорощо воспроизводимая оценочная кривая, из которой видно, что аналитическая ширина Adx линии определяемого элемента увеличивается с ростом логарифма концентрации (рис. 5.27, а). Иногда (например, при анализе следов элементов) интенсивность аналитической линии х определяемого элемента оказывается ниже интенсивности линии г элемента сравнения. В таком случае в качестве интенсивности сравнения следует использовать максимальную интенсивность линии х. При этом оценочная кривая наклонена в противоположную сторону (рис. 5.27, б), т. е. при увеличении концентрации величина аналитической щирины Adr линии элемента сравнения уменьщается. [c.65] При использовании спектрографов высокой дисперсии собственное и инструментальное ущирения линий оказывают больщее влияние на результат анализа. Однако в этом случае величина Ad изменяется с логарифмом концентрации не линейно, а экспоненциально. Следовательно, при использовании спектрографов высокой дисперсии предпочтительнее строить аналитическую кривую в виде функции lg с = f (lg Ас ), поскольку при этом она близка к линейной. [c.65] точность анализа не зависит от самопоглощения аналитических линий. Поэтому при использовании, например, резонансной линии аналитическая кривая оказывается линейной на протяжении трех-четырех порядков величины концентрации. [c.66] Вернуться к основной статье