ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Определение состава и структуры поверхностных слоев из "Курс коллоидной химии" Большинство указанных явлений подробно рассматривается в курсе физики. В курсе коллоидной химии более детально излагаются некоторые специфические явления, такие, как рассеяние лучей, двойное лучепреломление и др. В то же время все перечис ленные оптические свойства объектов коллоггдной химии широко используются для их исследования оптическими методами. [c.245] Для исследования состава поверхностных слоев, определения функциональных групп на поверхности, межатомных и межмоле-кулярных связей широко используются традиционные оптические методы спектроскопия (инфракрасная, ультрафиолетовая, комбинационного рассеяния), рентгенография, электронография и др. Их применение для таких исследований отличается специфическими способами приготовления испытуемых образцов, поскольку информация должна поступать из очень тонкой области системы, тол-щиной порядка нескольких моноатомных или мономолекулярных слоев. Названные методы исследования достаточно подробно из лагаются в курсах физики и физической химии. [c.246] Особый интерес проявляется в последние годы к твердой поверхности. Это- связано как. с огромным значением процессов, протекающих в поверхностных слоях, для катализа, коррозии, адгезии, трения и др., так и с развитием электроники (микроэлектронные устройства,, микроминиатюризация). [c.246] Потребности производства вызвали разработку и внедрение новых методов исследования качественного и количественного анализа поверхностных слоев. Развитие получили методы, основанные на зондирующем воздействии на образец пучками фотонов, электронов, ионов, нейтральных частиц, электрического и магнитного полей и др. Все они (кроме магнитного поля) вызывают эмиссию вторичных частиц электроиов, ионов, фотонов или нейтральных атомов, передающих информацию о поверхности соответствующему детектору. Очевидно, что анализы проводятся в вакууме, и поэтому указанные методы применимы только для анализа твердых поверхностей. Большинство иа этих методов имеет разрешение по глубине не более 10 нм. [c.246] Значительно меньше оптических методов, предназначенных для исследования поверхностных слоев на границе с жидкостью, что в первую очередь связано с невозможностью сохранения жидкого состояния в условиях высокого вакуума. Одним нз информативных методов исследования адсорбционных слоев и пленок в данных условиях является, например, метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения. Спектры внутреннего отражения позволяют определить величину адсорбции, толщину слоя, его анизотропию и исследовать закономерности их изменения. [c.247] Вернуться к основной статье