ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Адсорбционное титрование латексов из "Лабораторные работы и задачи по коллоидной химии" Цель работы, определение степени насыщенности поверхности латексных частиц ПАВ, площади, занимаемой молекулой ПАВ в насыщенном адсорбционном слое, и удельной поверхности дисперсной системы. [c.143] Способность коллоидных ПАВ образовывать мицеллы при малом содержании их в растворе лежит в основе широко применяемого на практике метода адсорбционного титрования латексов. Этот метод используется для определения таких важнейших характеристик латексов, как степень адсорбционной насыщенности поверхности частиц 0/, их размеров, площади, занимаемой одной молекулой ПАВ при образовании насыщенного адсорбционного слоя 5о, а также удельной поверхности системы 5уд. [c.143] Метод адсорбционного титрования латексов состоит в следующем. В латекс, на поверхности частиц которого уже содержится определенное количество стабилизатора (ПАВ), дополнительно вводят ПАВ. Молекулы ПАВ адсорбируются в основном на поверхности полимерных частиц. Концентрация же свободного стабилизатора в водной фазе вследствие его высокой поверхностной активности ничтожно мала и значительно меньше концентрации, при которой образуются мицеллы. После завершения адсорбции ПАВ, которая, как правило, носит мономолекулярный характер, дальнейшее добавление его приводит к ассоциации молекул или ионов в водной фазе латекса. Этому отвечает перегиб на кривых адсорбционного титрования, например, кривых зависимостей поверхностного натяжения или удельной электропроводности от объема вводимого в латекс раствора ПАВ (рис. 41). [c.143] Если средний диаметр полимерных частиц йя найден независимым методом, например, турбидиметрическим методом, то уравнение (V. 30) позволяет рассчитать 5о по данным адсорбционного титрования. [c.144] Согласно уравнению (V. 31) величина Лад определяется как тангенс угла наклона прямой, построенной в координатах УккмСпдв/К — Слат, а отрезок, отсекаемый этой прямой на оси ординат, соответствует значению ККМ данного ПАВ. Последнее справедливо лишь тогда, когда исходный латекс не содержит свободного стабилизатора. В остальных случаях приведенный способ определения ККМ не является достаточно строгим. [c.144] Установка для измерения поверхностного натяжения или мост переменного тока с кондуктометрической ячейкой для измерения электропроводности. [c.145] Конические колбы емкостью 50 и 200 мл. [c.145] Раствор ПАВ, например 0,1 Ai раствор олеата натрия. [c.145] Предварительно определяют диаметр частиц латекса. Для этого измеряют оптическую плотность исходного латекса при различных длинах волны падающего света с помощью фотоэлектроколориметра (методику изменения и расчета диаметра частиц см. в работе 17). [c.145] В колбах емкостью 200 мл готовят три образца латекса с концентрацией дисперсной фазы 5, 10 и 15 % (масс.) в объеме по 120 мл. [c.145] Доводят pH приготовленных образцов до значений 9—10, для чего в них вводят по каплям 0,1Л1 раствор NaOH (pH контролируют с помощью рН-метра). [c.145] Объем золей во всех колбах доводят дистиллированной водой до постоянного значения У = 20 мл и выдерживают их 30—40 мин для установления адсорбционного равновесия. После этого измеряют поверхностное натяжение о или удельную электропроводность у, латексов. Если в качестве стабилизатора латексных частиц применены ионогенные ПАВ, предпочтительнее кондуктометрический метод, поскольку он позволяет более точно определять точку излома на кривых титрования. [c.145] Методика измерения а приведена в работе 1, методика кондуктометрических измерений — в работе 20. Для каждого образца латекса измерение величины о или х проводят не менее трех раз и рассчитывают среднее значение параметра. Полученные данные записывают в таблицу (см. табл. V. 5). [c.145] Вернуться к основной статье