ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Грубая юстировка кристаллов из "Рентгеновская кристаллография" Рентгенограмму качания получают описанным выше способом, затем делают дополнительную 10-минутную экспозицию с экраном, установленным так, чтобы граница его тени совпадала с линией, проходящей через след первичного пучка перпендикулярно оси вращения. В результате получается четкая линия, относительно которой и проводят измерения, необходимые для последующей юстировки кристалла (рис. 19, а). Очевидно, что в качестве опорной линии гораздо лучше использовать границу тени от экрана, чем край фотопленки, однозначность установки которой в кассету не гарантирована. На рис. 19, б—ж схематически показаны методы определения угловых поправок из рентгенограмм качания. В каждом случае указано положение дуг, соответствующее полученной рентгенограмме, и показано направление поворота кристалла. На рисунках цилиндрическая пленка развернута и является плоской. [c.59] На рис. 19, а показана идеальная картина, когда нулевая слоевая линия параллельна тени от экрана. [c.59] Если дифракционная картина имеет вид, изображенный на рис. 19, г, то цилиндр (кристалл) следует наклонить на угол 9 в сторону наблюдателя, и линия основания цилиндра станет горизонтальной. В случае картины на рис. 19, д цилиндр нужно отклонить на угол 0 от наблюдателя. [c.60] Обычно отклонение кристалла является таким, как на рис. 19, е. В этом случае необходимо ввести поправки по обеим дугам. Сначала кристалл перемещают по дуге2 на 8 , как показано, что должно привести к получению картины на рис. 19, ж. Затем вводят поправку на 4 по дуге 1, что должно привести к правильной установке кристалла. [c.60] Вернуться к основной статье