ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Толщина и сплошность покрытий из "Применение полимерных материалов в качестве покрытий " Для определения толщины свободной пленки и покрытия на подложке существует много методов при этом пользуются различными измерительными приборами — от простых микрометров до радиоизотопных толщиномеров. Микрометрические методы измерения используют для контроля толщины слоя в подшипниках скольжения, а также односторонних покрытий, если известна толщина подложки. В других случаях этот метод применяют редко, так как он связан с разрушением покрытий. Приборами для контроля служат микрометры, нутрометры, штангенциркули, микрометрические индикаторы. Погрешность измерения зависит от качества поверхности и точности инструмента. [c.145] Толщиномером ЭМТ-2м можно измерять толщину электроизоляционных покрытий на любых металлах без разрущення, в том числе на цилиндрических изделиях с радиусом более 150 мм. [c.147] Сплошность полимерных покрытий должна проверяться не только при испытаниях защитных свойств, но и для гарантии их работоспособности. Наличие микропор, невидимых невооруженным глазом, может явиться причиной преждевременного выхода изделия из строя. [c.147] Методы контроля сплошности свободных пленок и покрытий можно разделить на индикаторные и электрометрические. [c.147] Индикаторные методы основаны на выделении из растворов солей металлов, стоящих правее в ряду напряжений, чем металлы,- находящиеся на поверхности на использовании растворов веществ, являющихся анодными индикаторами для металла подложки на анодном осаждении органических красителей. [c.148] Индикаторные приборы, разработанные для контроля пористости лакокрасочных покрытий, могут быть применены для полимерных пленок. На практике большое распространение получили электрометрические методы з. [c.148] Простым ПО конструкции и удобным в работе является дефектоскоп Якубовича-Соловьева. Действие его основано на измерении величины тока, проходящего через поры покрытия между подложкой и металлической щеткой. [c.148] Более соверщенны дефектоскопы ЭД-4 и ЛДК-1, предназначенные для контроля сплошности изоляционных покрытий на металлической основе без их разрушения. [c.148] Вернуться к основной статье