ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Квантометрический анализ сталей на содержание легирующих элементов из "Физико-химические методы анализа 1988" Тангенс угла наклона прямой /( () к оси абсцисс определяется температурой разряда. [c.131] Таким образом, задача определения температуры разряда сводится к измерению относительной интенсивности ряда линий какого-либо элемента, для которого известны энергии возбуждения верхних уровней и относительные вероятности перехода. Для этого, например, могут быть использованы линии в спектрах Ре П или В I, характеристики которых даны в табл. 3,7 и 3.8. [c.131] Здесь т — масса покоящегося электрона (0,91-10 кг) с — скорость света (3-10 м/с) заряд электрона (1,60-10 Кл) v s — частота перехода, С . [c.132] Здесь В — постоянное слагаемое, объединяющее универсальные константы. [c.132] В табл. 3.9 и 3.10 приведены характеристики линий в спектрах Fel и ul, которые также могут быть использованы для измерения температуры. [c.132] Спектрограф для ультрафиолетовой области (ИСП-30 или ИСП-28). [c.132] Спектрограф для видимой области спектра (СТЭ-1). [c.132] Генератор дуги переменного тока. [c.132] Электроды — стержни диаметром 6 мм из железа-армко. [c.132] Образцы медного сплава с содержанием железа 1—1,5 %. [c.132] Проявляющий и фиксирующий растворы. [c.132] Фотографируют несколько раз спектры исследуемых образцов при ширине щели спектрографа 0,020 мм, силе тока дуги 4 А и дуговом промежутке 3 мм, варьируя при этом время экс-лозиции. Встык с ними снимают спектр железа. Пластинку проявляют, фиксируют, промывают и высушивают. Под спектро-проектором находят нужные спектральные линии и по результатам просмотра спектрограмм устанавливают необходимое время экспозиции. [c.132] Процедура определения температуры по другому образцу аналогична вышеизложенной. [c.133] При выполнении данной работы задание может видоизменяться. Например, может быть поставлена задача исследовать зависимость температуры дуги от силы тока, от потенциала ионизации вводимых в пробу добавок и т. д. [c.133] Многоканальные фотоэлектрические спектрометры (каантометры) широка применяют а промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31, Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная ш,ель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные выходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1—2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разла- гает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [c.133] Работа измерительных схем квантометров основана на накоплении зарядов на конденсаторах (см. разд. 3.1.4). Система выходная щель — ФЭУ — накопительный конденсатор представляет собой отдельный спектрометрический канал. В современных установках для экспресс-анализа таких каналов может быть несколько десятков (до 85). [c.133] Генератор (УГЭ-4, ИВС-6 и др.). [c.134] Вернуться к основной статье