ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Электронная и ионная спектроскопия из "Инструментальные методы химического анализа " Бомбардировка вещества фотонами или другими несущими энергию частицами может вызвать несколько явлений сначала происходит выбивание электронов из атомов мишени с образованием вакансий, затем следует релаксация (т. е. возвращение к нормальной конфигурации), которая может идти по одному из двух путей — испускание характеристического рентгеновского излучения и испускание вторичных оже-электронов. В предыдущей главе рассматривалось значение рентгеновского излучения в анализе, в этой главе будут показаны возможности эмиссии электронов. [c.251] Еще один метод анализа основан на бомбардировке вещества мишени положительными ионами, например Не+ или Аг+. В этом случае по энергии отраженных мишенью ионов (упругое столкновение) можно судить о природе атомов анализируемого вещества. Такого рода методы представлены в табл. 12-1. [c.252] На рис. 12-1 дана общая схема расположения электронных уровней в тяжелом атоме [1]. Внешний слой представляет собой непрерывную зону, образованную валентными электронами (принадлежащими молекулярным орбиталям). За этой зоной следует дискретный набор уровней, отвечающих остовным электронам, не участвующим в образовании химических связей. [c.252] Вернуться к основной статье