ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Изменение интенсивности характеристической линии с толщиной покрытия. Критическая толщина из "Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей" Прежде чем перейти к методу И, рассмотрим зависимость интенсивности характеристической линии, возбужденной рентгеновскими лучами в пленке, от толщины последней. Дальнейшее изложение важно и для эмиссионного рентгеноспектрального анализа основные идеи содержатся в явном или скрытом виде в работе Глокера и Шрайбера [166]. [c.165] Изложенные здесь соображения описаны математически в следующем разделе. [c.166] Вернуться к основной статье