ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Выбор кристалла-анализатора из "Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей" Наибольшую опасность представляют наложения высших порядков на слабые аналитические линии, особенно, когда последние имеют большую длину волны. К счастью, интенсивность быстро спадает с увеличением порядка отражения, т. е. при увеличении п в уравнении (11). Измерения, выполненные в лаборатории авторов при исследовании отражения К а молибдена от кристалла фтористого лития, дали следующие значения относительных интенсивностей в разных (указанных в скобках) порядках отражения 100 (1) 35 (2) 10 (3) 2,5 (4) 1,1 (5). Обычно наложением пятого и более высоких порядков можно пренебрегать. [c.231] Для того чтобы проиллюстрировать трудности, которые могут возникать при определении легких элементов, если происходит наложение их аналитических линий на линии высших порядков отражений, были проведены расчеты для алюминия. Результаты расчетов приведены в табл. 31. При этом принимались во внимание только сильные линии каждого элемента. Таблица дает значения произведения п1 в уравнении (11). Чем ближе значения этих произведений к длине волны Ка алюминия, тем сильнее потенциальный вклад этих линий в общий уровень фона. [c.231] Положение существенно облегчается тем, что амплитудная дискриминация исключает вклад высших порядков отражения в фон (см. 2.13). Линии в высоких порядках имеют большие энергии квантов по сравнению с аналитической линией и разница эта достаточно велика, чтобы сделать возможным фактическое исключение соответствующих нежелательных импульсов. Амплитудная дискриминация в сочетании с анализирующим кристаллом может позволить удовлетворительно определять легкие элементы в условиях, кажущихся безнадежными (см. рис. 80). Это один из важнейших вкладов, сделанных электроникой в рентгеновскую эмиссионную спектроскопию. [c.231] Вернуться к основной статье