Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Многоканальные фогоэ.чектрические спектрометры (квантометры) широко применяют в промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31. Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная ш,ель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные вы ходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1—2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей.

ПОИСК





Квантометрический анализ сталей на содержание легирующих элементов

из "Физико-химические методы анализа 1988"

Многоканальные фогоэ.чектрические спектрометры (квантометры) широко применяют в промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31. Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная ш,ель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные вы ходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1—2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [c.133]
Работа измерительных схем квантометров основана на накоплении зарядов на конденсаторах (см. разд. 3.1.4). Система выходная щель — ФЭУ — накопительный конденсатор представляет собой отдельный спектрометрический канал. В современных установках для экспресс-анализа таких каналов может быть несколько десятков (до 85). [c.133]
Квантометр (ДФС-36, ДФС-51, ДФС-40 и др.). [c.134]
Генератор (УГЭ-4, ИВС-6 и др.). [c.134]
Штатив (типа УШТ-4). [c.134]
Комплект стандартных образцов. [c.135]
Токарный станок для заточки стандартных образцов и проб. [c.135]
Токарный станок для заточки электродов (типа КП-35). [c.135]
Угольные электроды марки С-2 или С-3, диаметром 6 мм. [c.135]
Вольфрамовый электрод (постоянный). [c.135]
Проведение анализа. Анализ среднелегироваиных сталей проводят в двух режимах работы генератора УГЭ-4. В режиме дуги переменного тока определяют содержание кремния и алюминия, в режиме высоковольтной конденсированной искры — содержание марганца, хрома и никеля. [c.136]
По окончании работы выключить квантометр и генератор. [c.137]
Построение градуировочных графиков и расчет результатов анализа. По результатам экспонирования стандартных образцов необходимо построить градуировочные графики, выражающие зависимость показаний выходного прибора от концентрации определяемых элементов. Градуировочные графики строят в координатах lg(/l//2) — lg , откладывая по оси абсц 1сс логарифм концентрации определяемого элемента (lg ) или концентрацию элемента в логарифмическом масштабе (например, с использованием логарифмической диаграммной ленты), а по оси ординат — показания п) цифрового вольтметра Щ1511 в вольтах, пропорциональные логарифму относительной интенсивности аналитических линий. Масштаб по обеим осям следует выбирать одинаковым, т. е. в линейной мере отрезок, соответствующий числу вольт на порядок, должен быть равен отрезку, соответствующему изменению на порядок концентрации определяемого элемента. [c.137]
Градуировочные графики в логарифмической системе координат и в указанном масштабе обычно представляют собой прямые линии с тангенсом угла наклона 1—0,5. Наклон градуировочных графиков в указанном масштабе характеризует концентрационную чувствительность анализа. Уменьшение наклона градуировочного графика или загиб его в области малых концентраций могут быть вызваны наложением на сигнал от аналитической линии одного из следующих посторонних сигналов темного тока фотоумножителя рассеянного света, попадающего на ФЭУ через дверцы прибора излучения соседних с линией участков спектра, попадающего на ФЭУ при неправильной установке диафрагмы и проектирующего зеркала излучения соседней аналитической линии, попадающего на ФЭУ в виде блика от соседнего зеркала излучения спектра другого порядка, попадающего в выходную щель излучения мешающей линии, попадающей в щель вследствие неточной ее установки на аналитическую линию или перекоса. [c.138]
Если при построении градуировочного графика установлен его малый наклон или загиб в области малых концентраций, необходимо проверить и устранить перечисленные выше возможные источники посторонних сигналов. Влияние фона сплошного спектра и мешающих линий может быть несколько уменьшено применением более узких выходных щелей. [c.138]
Используя полученные градуировочные графики, рассчитывают содержания определяемых элементов в проанализированных пробах. [c.138]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте