ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Основная аппаратура из "Фотоэлектронная спектроскопия" Электроны в,у 2, вз и т. д. выбиты нз различных оболочек М с энергиями Я1. Ег, Бз и т. Д. По фотоэлектронным спектрам можно судить об относительном числе электронов, выброшенных в доступном энергетическом интервале. [c.10] Полученный спектр вычерчивается на диаграммной бумаге, где по горизонтальной оси откладывается разность потенциалов на электродах анализатора, а на вертикальной — скорость счета регистрируемых электронов. Величина напряжения, необходимая для фокусировки электронов, жестко связана с его кинетической энергией и, таким образом, с ионизационными потенциалами соответствующей орбитали. Чтобы легче было сравнивать публикуемые спектры, полученные на приборах различного типа, на оси абсцисс обычно откладывают потенциалы ионизации орбиталей в электронвольтах (эВ). 1 эВ эквивалентен 96,3 кДж-моль . [c.11] В центре молекулярные ионы (X), М+ (Л) и М (В), образовавшиеся при ионизации 1рех самых высоких завитых уровней. [c.12] Справа ФЭ-спектр, отражающий положение МО-уровней. [c.12] К заметному повышению фона по сравнению с дискретным спектром. Это отличаег явление многократной ионизации от обычного случая ( = 1), когда единственный выбитый в процессе фотоионизации электрон может иметь только одну дискретную энергию. В этой связи следует подчеркнуть, что второй, третий, п-й и т. д. ионизационные потенциалы, измеренные по линиям фотоэлектронного спектра, суть энергии, необходимые для удаления одного электрона с соответственно второй (по величине энергии), третьей, п-й занятой орбитали исследуемого вещества, но не энергии, необходимые для удаления соответственно двух, трех, п и т. д. электронов. [c.13] Вернуться к основной статье