ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Классификация экспериментальных методов рентгеновских дифракционных исследований из "Дифракционный и резонансный структурный анализ" Многие направления развития экспериментальных методов структурных исследований были намечены уже в первых работах М. Лауэ, В. Л. Брегга, П. Дебая и других исследователей, однако эта область физики твердого тела непрерывно развивается и совершенствуется. [c.111] В основу классификации экспериментальных методов рентгенографии можно положить либо способ регистрации дифракционного спектра (фотографический или ионизационный), либо агрегатное состояние исследуемого объекта (поли- или монокристалл, аморфное вещество, жидкость или газ). Несмотря на существование единого физического подхода к проблеме дифракции рентгеновских лучей (см. Введение и гл. I), различия в методических особенностях экспериментальных исследований различных объектов весьма существенны и приводят к появлению специальных областей рентгеноструктурного анализа. Например, значительная информация о белках, полимерах и ряде других объектов сосредоточена в области малых углов рассеяния от нескольких угловых минут до 3—5 градусов. С позиций физики рассеяния рентгеновских лучей между этой и всей остальной частью дифракционного спектра нет никакой принципиальной разницы, однако, специфические экспериментальные трудности, в первую очередь — малая интенсивность рассеянного излучения, привели к созданию специального рентгеновского оборудования — малоугловых рентгеновских камер и дифрактометров [1]. [c.111] В основе всех экспериментальных исследований структуры кристаллов дифракционными методами лен ит получение функциональной зависимости интенсивности рассеянного излучения С/ (Н), описывающей дифракционную картину. Дифракционная картина представляет собой пространственное распределение рассеянного образцом рентгеновского излучения и может быть описана путем указания интенсивности рассеянного излучения в каждой точке пространства, окружающего кристалл. [c.112] Любое кристаллическое вещество обладает фиксированным для данного вещества и состояния набором межплоскостных расстояний d, поэтому на практике можно варьировать только две величины — длину волны рентгеновского излучения X или угол образующийся между первичным пучком рентгеновских лучей и кристаллографической плоскостью. [c.113] Из курса атомной физики известно, что рентгеновское излучение, генерируемое рентгеновской трубкой, имеет сплошной и характеристический спектры [2]. В рентгеноструктурном анализе используется как тот, так и другой. Сплошной спектр рентгеновского излучения зависит от напряжения, подаваемого на трубку, а характеристический спектр определяется материалом ее анода. [c.113] Наибольшее применение в дифракционном структурном анализе получили три компоненты характеристического спектра рентгеновского излучения Кр, Ка, и Ка,. Не вдаваясь в подробности, укажем только, что существуют экспериментальные методики, позволяющие выделять из всего спектра излучения ту или иную характеристическую компоненту, например, с помощью кристаллов-монохроматоров, фильтров и т. д. [3]. В настоящее время промышленность выпускает рентгеновские трубки с анодами из различных материалов, которым соответствуют характеристические длины волн /(Г-серии рентгеновского излучения, лежащие в интервале от 0,5 до 2,5 А и наиболее подходящие для целей структурного анализа. Спектральные характеристики рентгеновского излучения для различных материалов анода можно найти в справочниках [4, 5]. [c.113] Вернуться к основной статье