Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Методика рентгенодилатометрических измерений развита в работах [И, 12], из которых следует, что наиболее целесообразно для этого использовать дифрактометры типа ДРОН с низкотемпературными и высокотемпературными устройствами, описанными в гл. VII.

ПОИСК





Дифракционный анализ фаз, существующих только в особых условиях

из "Дифракционный и резонансный структурный анализ"

Методика рентгенодилатометрических измерений развита в работах [И, 12], из которых следует, что наиболее целесообразно для этого использовать дифрактометры типа ДРОН с низкотемпературными и высокотемпературными устройствами, описанными в гл. VII. [c.154]
Из (VIII.4) видно, что рентгеновский метод позволяет определять КТР кристаллов непосредственно по температурной зависимости дифракционного угла без предварительного вычисления межплоскостных расстояний или параметров кристаллической решетки для каждой из температур Т. [c.154]
Для построения графической зависимости 1п sin О обычно используют достаточно большое число экспериментальных точек для уменьшения влияния случайных ошибок в измеренных значениях положения дифракционного профиля А и температуры АТ. Опыт экспериментальных исследований показал, что при низкотемпературных измерениях определение положения дифракционного профиля целесообразно проводить через 2—3°, уменьшая температурный шаг до 0,1—0,3° при подходе к точке фазового перехода. В этом случае за разумн ее время измерений удается получить 100—200 экспериментальных точек в одной серии. При высокотемпературных измерениях в широком температурном интервале ( 1500—2П00 °С) температурный шаг увеличивается до 50—100°. Если же измерения проводятся в небольшом температурном интервале и при не очень высоких температурах ( 500 °С), то в этом случае целесообразно вести измерения с температурным шагом 5—10°. [c.155]
Для кубических кристаллов поверхность КТР представляет собой сферу, и тензор теплового расширения [a j] полностью определяется одним КТР. Для одноосных кристаллов поверхность КТР является эллипсоидом вращения с осью вращения вокруг главной оси кристалла, и тензор теплового расширения задается двумя независимыми компонентами. Тензор теплового расширения кристаллов ромбической системы определяется тремя независимыми компонентами, и оси поверхности КТР ориентированы вдоль осей второго порядка. [c.156]
Результаты рентгенодилатометрических измерений замещенного ортоферрита представлены на рис. VHI.4, а в форме температурных зависимостей параметров элементарной ячейки кристалла. Из приведенного рисунка видно, что тепловое расширение исследуемого кристалла происходит немонотонно по всем трем главным осям, а в двух температурных интервалах (вблизи 140° и 168—178 °К) в ходе кривых наблюдаются аномалии. [c.157]
В узком температурном интервале 3—5° вблизи температуры 140 °К параметры а, Ъ ш с кристалла претерпевают скачкообразное изменение, после чего монотонно возрастают практически по линейному закону. В интервале температур / 168—178 °К углы наклона кривых температурных зависимостей параметров а, Ъ и с плавно изменяются, что указывает на изменение величин главных КТР. [c.157]
Магнитные измерения, проведенные на тех же образцах, выявили спин-переориентационпую природу обнаруженных фазовых переходов. [c.158]
Структурный фазовый переход и тепловое расширение в кристаллах дигидрофосфата калия КН2РО4 [15]. Кристаллы дигидрофосфата калия КН2РО4 (КВР) принадлежат большому классу одноосных сегнетоэлектриков, нашедших широкое применение в радиоэлектронной промышленности. Возможность широко варьировать состав этих кристаллов путем изоморфного замещения атомов калия атомами рубидия, цезия и других элементов, а также замещения атомов водорода атомами дейтерия, позволяет существенно изменять их физические характеристики, такие, как температура Кюри Гк, величина спонтанной поляризации и т. п. [c.158]
Температура Кюри кристаллов КВР равна —151 °С. Выше этой температуры кристаллы КВР находятся в неполярной фазе с тетрагональной структурой (пространственная группа СИ2й). При охлаждении кристалла ниже температуры Кюри он испытывает фазовый переход в полярную фазу с ромбической структурой (пространственная группа Рйд2). Полярной осью является ось с тетрагонального кристалла. [c.159]
После фазового перехода оси и полярной фазы развернуты на угол 45° вокруг оси с неполярной фазы, поэтому при исследовании фазовых переходов в кристаллах КВР исходную непомр-ную фазу принято описывать в пространственной группе FM2. При таком выборе элементарных ячеек направления осей ai и aa, до и после перехода, не изменяются. Элементарная ячейка кристалла КВР при описании с помощью пространственной группы J42d содержит 4 формульные единицы, а при использовании пространственной группы РЫ2 — 8 формульных единиц. На рис. VIH.5, а показаны элементарные ячейки кристалла КВР до / и после II перехода, описанные в различных пространственных группах. [c.159]
На рис. VIII, 5, в показаны дифракционные профили отраже ний (1200) и (0120) выше и ниже температуры Кюри. Фазовый пе реход фиксируется по расщеплению дифракционного максимума (1200) неполярной фазы на два максимума (1200) и (0120) полярной фазы, т. е. непосредственно по изменению кристаллической структуры. Одинаковая интенсивность дифракционных максимумов 1200 и 0120 в полярной фазе свидетельствует о том, что в спонтанно поляризованном кристалле KDP домены двух ориентаций образуются в равных количествах. [c.160]
На рис. VIII.6, а представлены температурные зависимости параметров а, Ь, с и объема V элементарной ячейки кристалла KDP. Отчетливо видно, что вблизи температуры Кюри происходит структурный фазовый переход. На рис. VIII.6, б, в показаны температурные зависимости главных КТР кристалла KDP, причем в ходе температурных кривых вблизи точки Кюри наблюдаются аномалии тина Х-точки, свидетельствующие о наличии фазового перехода I рода. [c.160]
Кюри в полярной фазе происходит плавное возрастание как Pg, так и AF, что и подтверждает вывод о связи аномального увеличения объема элементарной ячейки кристалла RDP со стрикционными эффектами. [c.162]
Применение высокотемпературной рентгенографии для изучения полиморфизма железа. Вся современная практика изготовления и термической обработки сталей базируется на уникальном физическом свойстве железа — его аллотропии или полиморфизме, открытом в 1868 г. Д. К. Черновым. [c.162]
Применение методов высокотемпературной рентгенографии для изучения полиморфизма железа позволило получить ряд принципиальных результатов. Только с его помощью удалось показать, что кристаллические структуры а- и -модификаций аналогичны, что превращение Р- в у-модификацию заключается в перестройке ОЦК структуры в ГЦК структуру, что б-модификация железа, так же как а- и р-модификации, обладает ОЦК структурой (Вест-грен, 1921 г.). . [c.162]
Структура Мп описывается пространственной группой Т%—С/АЗт. При2°С параметр кристаллической решетки равен 8,912 А. В интервале температур от 742 до 1095 °С устойчива р-модификация марганца со сложной кубической структурой, описываемой пространственной группой (9 — Р4дЗ. В элементарной ячейке насчитывается 20 атомов, размещающихся в двух структурно-неэквивалентных положениях. Параметр кристаллической решетки при 20 °С равен 6,3145 А. Выше 1095° и до 1134 °С устойчива у-модификация марганца с ГЦК структурой, а выше 1134° существует б-модификация с ОЦК структурой. Отметим, что с помощью резкой закалки можно зафиксировать только р-модификацию марганца нри комнатной температуре. [c.163]
Тепловое расширение марганца в температурном интервале от 20 до 1500 °С исследовалось методом высокотемпературной рентгенографии в [18]. В работе [19] приведены данные исследования теплового расширения а- и Р-модификаций марганца в интервале температур от —180 до - -20 °С, выполненного методом низкотемпературной рентгенографии. Результаты этих исследований дают достаточно полную информацию как о полиморфных превращениях в марганце, так и о характере теплового расширения во всех четырех модификациях. [c.163]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте