ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Разрешающая способность из "Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов" Эта формула выражает тот замечательный факт, что угловая дисперсия эталона Фабри — Перо не зависит от расстояния между отражающими слоями и, таким образом, одинакова для всех эталонов. Характеристикой эталона, существенно зависящей от его толщины , т. е. от расстояния t, является так называемая постоянная эталона АЯ. [c.160] Таким образом, постоянная эталона зависит только от расстояния между отражающими поверхностями эталона и, выраженная в волновых числах (или частотах), не зависит от частоты падающего света. Поэтому обычно гораздо удобнее выражать величину постоянной эталона в волновых числах, а не в длинах волн. [c.161] Здесь Ы — расстояние между кольцами одного порядка интерференции, но разных частот, А/ — расстояние между соседними кольцами одной и той же частоты, Av — постоянная эталона. [c.161] Во многих случаях трудно определить, какие кольца следует отнести к одному порядку интерференции. Для ращения этого вопроса, как правило, приходится получать две или несколько спектрограмм с разной толщиной эталона. При их расшифровке используется тот факт, что угловая дисперсия эталона не зависит от его толщины. [c.161] Следующая основная характеристика эталона — разрешающая сила — существенным образо.м зависит от 1шдивид альны.х особенностей прибора и, прежде всего, от коэффициента отражения зеркальных слоев. [c.162] Распределение интенсивности в проходящем свете характеризуется резкими и узкими максимумами на сравнительно слабом фоне (рис. 62а). В отраженном свете картина дополнительная под теми углами, на которые приходится максимум прошедшего света, в отраженном свете наблюдаются узкие глубокие минимумы, а между ними — широкие максимумы, соответствующие минимумам в проходящем свете (рис. 626). В проходящем свете несколько лини с дают разделенные системы колец, но в отраженном свете картина полностью размывается уже в том случае, когда излучение источника содержит хотя бы две спектральные линии, так как на систему широких светлых колец с узки.ми темными про.менч ут-ками накладывается другая система широких светлых колец. Г оэтому эталон, за редким исключением, применяют для работы в проходящем свете. [c.162] Как видно из формулы (89), форма кривой распределения интенсивности существенным образо.м завнсит от коэффициента отражения. На рис. 63 представлены кривые интенсивностей для ряда значений коэффициента отражения г. [c.162] Интенсивность света в максимуме очень сильно зависит от коэффициента поглощения отражающих слоев х = 1 — г — Т, причем эта зависимость становится более сильной для больших г. в табл. 9 приведено пропускание эталона в максимуме для различных к и г. [c.162] Для определения разрешаюш,ей силы эталона нельзя воспользоваться критерием Рэлея, так как в кривой интенсивности (рис. 62) отсутствуют дополнительные максимумы и минимумы, характерные для призмы и дифракционной решетки. Поэтому в качестве критерия разрешения можно взять такое расстояние между линиями, когда глубина провала в минимуме суммарной кривой интенсивности, даваемой двумя близкими линиями одинаковой интенсивности, равна 0,2 от интенсивности в максимуме. Вычисленная таким образом разрешающая способность дает возможность правильно сравнивать разрешающую способность эталона с вычисленной по Рэлею разрешающей способностью дифракционной решетки или призмы. [c.164] Как видно, разрешающая сила прямо пропорциональна толщине эталона t. [c.165] Полученное выражение (99) не строго. Кроме сделанных при его выводе некоторых приближений, сам вывод основан на представлении об идеальном эталоне, имеющем совершенно плоские и бесконечно протяженные поверхности. Отступление реальных поверхностей от плоскости и конечные размеры эталона снижают разрешающую силу Р 8 ]. [c.165] Влияние ошибок поверхности эталона разобрано в следующем разделе. Конечные размеры зеркал эталона приводят к виньетированию наклонных пучков, а также к уширению интерференционных полос, вызванному дифракцией на входной диафрагме эталона. Роль дифракции подробно разобрана Ф. А. Королевым [ ], который показал, что для всех практически важных случаев этим эффектом можно пренебречь. Виньетирование пучков может сказываться при работе с толстыми еталонами для колец далеко отстоящих от центра (подробные расчеты см. в [ ]). [c.165] Вернуться к основной статье