ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Рентгенографический и электронографический методы из "Качественный анализ полимеров" Рентгенографическое исследование полимерных веществ обычно проводят с использованием СиКа-излуче-ння, фильтрованным никелем. Угловое распределение интенсивности рассеяния регистрируют счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом [1]. [c.73] В случае аморфных полимеров (рентгенограммы первого типа) при наименее совершенном порядке в расположении макромолекул на рентгенограммах обнаруживаются только одно или несколько диффузных колец, т. е. дифракционные картины весьма сходны с рентгенограммами низкомолекулярных жидкостей. Картины такого типа получены для атактического полистирола, поливинилацетата, фенолоформальдегидных смол и т. п. На рентгенограммах вторичного типа наблюдаются одно или два резких кольца с быстрым спадом интенсивности рассеяния при переходе к большим углам рассеяния и диффузным пятном в области первичного пучка. Такого типа дифракционные картины обнаружены для полиак-рилонитрила, поликарбонатов и др. Для рентгенограмм третьего типа (в случае кристаллических полимеров) характерно значительное число резких рефлексов. Однако полимеры, как правило, не бывают полностью закристаллизованы. Ширина и интенсивность наблюдаемых рефлексов зависят от степени дефектности и размеров кристаллов. [c.73] Путем сравнения дифракционных картин ориентированных образцов в аморфном и кристаллическом состоянии можно установить, какая часть структуры вещества обусловлена расположением регулярно построенных молекул и какая часть является результатом процесса кристаллизации. [c.74] Количественная оценка изменения картин дифракции может быть проведена сравнением интегральной интенсивности, формы и высоты максимумов над фоном для выбранных рефлексов. Изменение интегральной интенсивности является следствием изменения числа упорядоченных областей, а по расширению рефлексов можно оценить размер этих участков. [c.74] Разработан метод оценки упорядоченности высокоориентированных полимеров, фазовое состояние которых может быть различным [18]. [c.74] Рентгеновский метод применяют также при исследовании тонкой структуры надмолекулярных образований. [c.74] Электронографический метод благодаря малой длине волны рассеянных электронов, ускоренных напряжением 40—100 кВ, и сильному взаимодействию электронов с веществом применяют для исследования ультратонких слоев и малых по размерам кристаллов. Метод дифракции электронов применяют при изучении структуры молекул в парах, строения тонких пленок и поверхности слоев и при исследовании разнообразных полимерных систем [19, 20]. [c.74] Вернуться к основной статье