ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Непосредственное измерение емкости двойного электрического слоя из "Основы электрохимии Издание 2" Непосредственное измерение емкости двойного электрического слоя может быть осуществлено компенсационным методом с помощью мостовой схемы, показанной на рис. 39. Наличие в схеме измерения наряду с переменной емкостью переменного сопротивления вызвано тем, что эквивалентная электрическая схема измерительной ячейки может быть представлена в виде последовательно включенных емкости изучаемого электрода и сопротивления раствора в ячейке (рис. 40). [c.105] При проведении измерений емкости двойного слоя с тем, чтобы максимально уменьшить протекание электрохимических процессов, обычно применяют переменный ток с частотой до 2 и более кГц, а также осуществляют глубокую очистку растворов от посторонних примесей. [c.105] Измеряемая с помощью компенсационного метода емкость двойного слоя соответствует определенному значению потенциала исследуемого электрода, который можно менять, поляризуя исследуемый электрод с помощью электрода 3 (см. рис. 41), Эта емкость является дифференциальной емкостью электрода. [c.106] Вернуться к основной статье