ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Методы исследования пали кристаллических образцов из "Рентгенография в неорганической химии" Многие теоретические аспекты обработки рентгеновских данных с целью получения сведений о дефектах кристаллов известны давно, но экспериментальных работ в этой области было мало. В настоящее время такие работы занимают все более важное место среди других методов испытания материалов. Данная книга посвящена главным образом обсужде нию возможностей порошковой рентгенографии, что проиллюстрировано примерами исследований различных групп неорганических соединений (в основном оксидов). [c.4] Поскольку традиционные методики и аппаратура продолжают использоваться в практике многих лабораторий, им уделено некоторое внимание, так как, по наблюдениям автора, далеко не всегда применяется рациональная обработка результатов измерений, что может приводить к ошибочным выводам. [c.4] НИИ состава для структурно родственных серий соединений. В качестве первого этапа решения структурных задач можно рассматривать определение параметров элементарных ячеек, т.е. индицирование рентгенограмм. Во многих случаях этого достаточно (в совокупности с данными о плотности и валовом химическом составе или границах области гомогенности) для решения вопроса о стехиометрическом составе соединени5 . Определение стехиометрического состава соединения, т.е. состава, отвечающего бездефектной структуре или учитывающего доминирующие типы дефектов, принципиально невозможно без сведений о размерах и симметрии элементарной ячейки. Конечно, более надежные данные могут быть получены при полном определении структуры. [c.5] Еще более сложная проблема - получение данных о строении аморфных веществ, растворов и расплавов. Некоторое облегчение здесь дает возможность сопоставления со структурными данными для кристаллов обычно речь идет о том, насколько глубоки структурные изменения при плавлении или растворении вещества. [c.5] Еще одна задача, решаемая методом порошковой рентгенографии, - определение размеров областей кристалла с ненарушенной периодичностью, т.е. областей когерентного рассеяния (ОКР), которые иногда называются кристаллитами. Для некоторых образцов размеры ОКР совпадают с размерами частиц. Методически близки к решению этой задачи вопросы определени5 некоторых типов дефектов. Для решения этого комплекса проблем необходим тщательный анализ профиля дифракционных линий. [c.5] Нельзя сделать правильных выводов о фазовом составе и структуре поликристаллического образца, не имея надежных экспериментальных данных, а для этого необходимо правильно выбрать длину волны рентгеновского излучения и способ съемки образца. Поэтому кратко рассмотрим спектры рентгеновских лучей и основные виды рентгеновской аппаратуры. [c.6] Вернуться к основной статье