ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Другие методы исследования из "Физикохимия неорганических полимерных и композиционных материалов" Распространенным методом анализа тугоплавких веществ является масс-спектроскопия [172, 317]. По этому методу анализируется газ или плазма, образующаяся при Т Т л над конденсированной системой. Метод с успехом применяется для оценки продуктов разложения КМ при экстремальных, условиях. [c.155] В качестве примера рассмотрим поведение самого тугоплавкого простого вещества — углерода — при высоких температурах. Установлены парциальные давления при разных температурах (например, 2500 и 4000 К) для мономера С1 и олигомеров С2-5, а также их однозарядных ионов. Модификация а-С при высоких температурах разлагается преимущественно с выделением тримеров Сз тетра- и лента меры выделяются реже. [c.156] Возможности современных методов исследований постоянно расширяются. [c.156] Находит применение и старый метод — газовая электронография, несколько модифицированный в последние годы. За счет его усовершенствования появилась возможность детально изучать процессы не только в органических соединениях, но и в труднолетучих неорганических веществах [171]. Этим способом можно определять межъядерные расстояния с точностью до 0,2—0,5 пм. Перспективным является метод, по которому электронограф (с радиационным нагревом испарителя до 2000 °С) комбинируют с масс-спектрометром. Это особенно эффективно в случае исследования системы веществ со сложным составом пара. [c.156] Для обнаружения элементов, составляющих в материале доли процента и при их общем количестве 10 —10 г, пригодна рентгеноэлектронная спектроскопия. Этот метод может быть использован для исследования слоя вещества в 2—3 нм и более глубоких слоев поверхности при последовательном удалении (травлении) ионными пучками отдельных слоев. При этом используется поток ионов Аг+ или Кг+ с энергией до нескольких килоэлектронвольт. Скорость травления — 20—50 нм/мин. Ход Х-электронных линий на графике демонстрирует изменение концентрации отдельных элементов по глубине слоя во время травления. Метод широко используется для исследования микровключений в поверхностных слоях КМ (адсорбенты, катализаторы и др.). [c.156] Вернуться к основной статье