ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Сирота, В. Д. Я нович. Определение среднеквадратичных динамических смещений ионов в селенидах цинка и кадмия из "Химическая связь в полупроводниках" Расчет интенсивности диффузного рассеяния второго порядка для кристаллов со структурой сфалерита. Орлова Н. С. Химическая связь в полупроводниках , 1969 г., 161 —171. [c.357] Подробно описывается метод расчета интенсивности диффузного рассеяния рентгеновских лучей второго порядка для двухатомных кристаллов со структурой сфалерита в приближении усредненной одноатомной линейной цепочки. Приводится таблица узлов обратной решетки, участвующих в рассеянии в областях вокруг исследуемых узлов 00/, ЛйО, ккк. [c.357] Приводится описание конструкции камеры, которая позволяет проводить рентгенографические исследования от температуры жидкого азота до 600 °С. [c.357] Определение среднеквадратичных динамических смещений нонов в селенидах цинка и кадмия. [c.357] Сирота И. Н., Я н о в и ч В. Д. Химическая связь в полупроводниках , 1969 г., 175—178. [c.357] Вернуться к основной статье