ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Учет факторов, влияющих на интенсивность дифракционных лучей из "Основы структурного анализа химических соединений 1982" Исследователя интересует зависимость интенсивности дифракционных лучей от координат атомов в элементарной ячейке кристалла. Но понятно, что и лучи иервичного пучка, и лучи, дифрагированные решеткой кристалла, меняют свою интенсивность при прохождении сквозь толщу кристаллического вещества под влиянием побочных или вторичных эффектов, К таковым относятся, во-первых, общая зависимость интенсивности рассеяния рентгеновских лучей от угла рассеяния (поляризационный фактор Р)] во-вторых, зависимость интенсивности рассеяния от кинематической схемы прибора (фактор Лорентца ) в-третьих, поглощение рентгеновских лучей в кристалле (адсорбционный фактор Л) в-четвертых, зависимость интенсивности дифракционных лучей от степени совершенства кристалла (первичная и вторичная экстинкции). [c.74] Первые два фактора (поляризационный и Лорентца) передаются вполне точными математическими соотношениями и всегда учитываются на стадии первичной обработки экспериментально измеренной интенсивности дифракционных лучей. [c.74] Поглощение лучей — частичная передача их энергии атомам — зависит от элементного состава кристалла, его объема и, что самое существенное, от его формы. В настоящее время разработаны достаточно совершенные методы учета этой зависимости. Поскольку, однако, точное описание формы ограненного кристалла встречает определенные трудности, предпочтительно произвести предварительную обработку кристалла — придать ему форму цилиндра или сферы. Поглощение в кристаллах цилиндрической или сферической формы учитывается и проще, и надежнее, чем в ограненных кристаллах. [c.74] Вернуться к основной статье