ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Уточнение координатных и других параметров структуры из "Основы структурного анализа химических соединений 1982" После выявления всех атомов в процессе последовательного очищения распределения электронной плотности исследователь переходит к уточнению координат атомов с учетом различных побочных факторов, влияющих на интенсивность дифракционных лучей. Обычно уточнение проводится классическим методом наименьших квадратов (МНК). [c.113] Естественно, что обрыв ряда Тейлора на первых членах, а также изменение начальных фаз отражений при уточнении координат заставляют повторять уточнение несколько раз, т. е. делают процесс итерационным. Поскольку, однако, мы имеем дело с чисто математической процедурой, весь этот процесс может быть полностью автоматизирован. [c.115] Уточняемыми параметрами служат константы Bj (всего п констант) или константы bsj (всего 6п констант). [c.116] Таким образом на каждом шаге итерации требуется составить квадратную матрицу коэффициентов а, и линейную 6 / порядка 4 и + 1 в изотропном приближении и 9 п + I в анизотропном приближении. [c.116] В прецизионных исследованиях помимо тепловых колебаний атомов учитывается (и уточняется) также ряд других побочных факторов, воздействующих на интенсивность дифракционных лучей (см. с. 75). [c.116] Вернуться к основной статье