Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Однако основное направление развития техники рентгеноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом.

ПОИСК





Автоматизация рентгеноструктурного эксперимента

из "Основы структурного анализа химических соединений 1989"

Однако основное направление развития техники рентгеноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом. [c.78]
Кристалл в дифрактометре устанавливается в некоторой произвольной, заранее неизвестной ориентации. По сигналу, поступающему от управляющей вычислительной машины, кристалл и счетчик прощупывают некоторые заданные области поворотов и отыскивают несколько дифракционных лучей. По параметрам (установочным углам) этих лучей управляющая ЭВМ рассчитывает ориентацию осей кристалла в его исходном положении, определяет и уточняет параметры решетки а, Ь, с. После этого она рассчитывает установочные углы для каждого луча pqr последовательно, переводит кристалл и счетчик в соответствующее положение и измеряет интенсивность дифракционного луча, а также интенсивность фона вблизи отражения. Все данные измерений поступают в управляющую ЭВМ и подвергаются первичной обработке (вычитание фона, учет поправки на дрейф интенсивности первичного пучка и др.). [c.78]
Результаты фиксируются в блоках памяти машины и после накопления (отдельными порциями или целиком) передаются в память второй — обрабатывающей — ЭВМ. Эта передача может осуществляться либо по прямому каналу связи, либо переносом магнитной или пер форационной ленты с одной ЭВМ на другую. [c.78]
После накопления в памяти второй ЭВМ всех дифракционных данных она приступает к дальнейшей ыа-тематической обработке, т. е. к непосредственному анализу структуры кристалла. [c.78]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте