ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Микрофотометр из "Физические методы анализа следов элементов" ЦИИ нужных линий большинство современных микрофотометров содержат элементы компаратора. Для облегчения нахождения линий освеш ается достаточно широкая область спектра в поле зрения компаратора находится реперная шкала и неизвестный снектр проектируется рядом с хорошо известным. Ио компаратор, облегчая идентификацию линий, уменьшает точность измерений плотностей почернения. [c.175] При определении больших и даже малых количеств элементов нонраи-кой на фон часто пренебрегают, но в случае определения следов поправка на фон обязательна. [c.175] Наиболее наден ен способ учета фона при помощи сканирующего микрофотометра. Линия сканируется по обе стороны от ее центра на расстояние равное ширине линии, среднее значение фона оценивается визуально. Несмотря на то что в принципе фон можно измерить и на нерегистрирующем микрофотометре, тем не менее существуют некоторые доводы против этих измерений. Прежде всего почернение фона не равномерно, оно меняется вследствие неоднородности эмульсии и неоднородности самого фона (рис. 10). Во-вторых, фон непосредственно у достаточно плотной линии имеет провал, обусловленный эффектом Эберхарда. Большие скопления зерен серебра в изобран ении линии проявляются сильнее, уменьшая концентрацию проявителя вблизи линии. Поэтому истинный фон следует замерять на некотором расстоянии от линии. [c.175] Точность определения следов элементов зависит также от линейности электронной схемы микрофотометра. Независимо от интенсивности падающего на микрофотометр света уменьшение интенсивности в два раза должно соответствовать уменьшению показаний отсчетной схемь( в два раза. Это проверяют измерением отнопюни прозрачности линии с помещенным в пучок света фильтром. [c.175] Вернуться к основной статье