ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Определение ориентировки кристалла по методу Лауэ из "Рентгенографический и электроннооптический анализ Издание 2" При съемке на просвет симметрия расположения пятен относительно центра рентгенограммы соответствует симметрии кристалла относительно оси или плоскости, совпадающей с направлением рентгеновского луча. Если, например, при съемке кристалла кубической сингонии рентгенограмма имеет симметрию оси четвертого порядка, то, очевидно, рентгеновский луч был параллелен оси куба [100] симметрия оси третьего порядка указывает на параллельность луча оси октаэдра [111]. В общем случае ориентировка кристалла может быть случайной и пятна не будут давать симметричной картины. Но во всех случаях при прямой съемке они располагаются по эллипсам, проходящим через центр лауэграммы (рис. 105, а). [c.195] Все пятна одного и того же эллипса возникают при отражении лучей от семейств плоскостей, принадлежащих к одной и той же зоне. Если ось зоны составит с направлением первичного луча угол в 45°, то максимумы будут расположены на параболе. Если этот угол будет больше 45°—то на гиперболе. При угле 90° максимумы будут расположены на прямой. Наиболее ясно выраженные эллипсы соответствуют зонам, оси которых имеют наименьшие индексы 100 , 110 , 111 , 211 и т.д. [c.195] Существует связь между положением пятен лауэграммы и гномостереографическими проекциями соответствующих плоскостей. [c.196] Как видно из рис. 106, гномостереографическая проекция отражающей плоскости находится на диаметре круга проекции, проходящем через след соответствующего отраженного луча (по другую сторону от центрального пятна), и отстоит от основного круга проекции на угол О. [c.196] Из этой же схемы ясно, что tg2в =- , где I — расстояние от пятна лауэграммы до центра L — расстояние от образца до пленки. [c.196] Индицирование пятен лауэграммы, а также нахождение стереографических проекций интересующих нас направлений проводят по стандартным сеткам. [c.196] Полезно срезать верхний правый (от образца) угол пленки, чтобы в случае надобности опознать лицевую и обратную сторону пленки. [c.196] Все данные вместе с оценкой интенсивности (сл., ср., С.) занести в таблицу (табл. 1). [c.196] Индексы плоскостей, дающие отражения, и проекции важных кристаллографических направлений находят при помощи стандартных проекций (приложения 42 и 43). Выбор стандартных проекций определяется индексами осей зон, которые образуют эллипс на лауэграмме. [c.198] В новую плоскость проекции переносят проекции всех отражающих плоскостей и осей зон и соответственно нумеруют (рис. 108,6). [c.198] При определении ориентировки следует иметь в виду, что проекции интересующих направлений находят по стандартной проекции, т.е. после поворота кристалла (новая плоскость проекций), а проекции координатных осей х, у z остаются в первоначальной плоскости проекции. Поэтому при использовании первых двух способов необходимо с помощью сетки Вульфа совершить обратный поворот на угол т ), т, е. перенести проекции интересующих кристаллографических направлений в первоначальную плоскость проекции. [c.199] Для определения ориентировки по третьему способу следует найти новую проекцию заданного направления (например, если х) после поворота плоскости проекции (т. е. необходимо совершить поворот этого направления на угол о))). Кристаллографические индексы его определятся при совмещении проекции кристалла со стандартной проекцией. [c.200] Данные об углах заносят в табл. 4. [c.200] Расположение пятен на рентгенограмме, снятой на отражение (эпиграмме), также связано с ориентировкой кристалла. На эпиграмме пятна от плоскостей, принадлежащих одной зоне, группируются не по эллипсам, а по гиперболам (см. рис. 105,6). В частном случае гиперболы вырождаются в прямые линии, проходящие через центр эпиграммы. [c.200] Копировать следует, по крайней мере, три четко выраженные гиперболы. Желательно копировать гиперболы, пересекающиеся в интенсивном максимуме. [c.203] Определение ориентировки производят так же, как и в случае лауэграммы, полученной прямой съемкой. [c.204] Кристалл в заданной ориентировке устанавливают так же, как и при съемке на просвет. [c.204] Заранее подсчитав для любых х и у соответствующие углы ф и р и построив их для определенного значения L, получим сетку Грейнин-гера, которая градуируется обычно, как и сетка Вульфа, через 2° (приложение 46а). Гиперболам, расположенным справа налево, соответствует определенное значение р, и каждая из них является геометрическим местом точек дифракционных максимумов от плоскостей тех зон, чьи оси наклонены к плоскости пленки под углом р гиперболы, идущие сверху вниз, соответствуют определенным значениям ф. [c.204] Совмещая центр сетки Грейнингера с центром пленки и располагая сетку так, чтобы координатные оси сетки и плепки совпали, можно прочесть для каждого пятна эпиграммы соответствующие значения Ф и р и нанести гномостереографическую проекцию плоскости, дающей отражение на кальку, пользуясь сеткой Вульфа (рис. 115). [c.205] Аналогично сетке Грейнингера может быть построена сетка Леонгардта, пригодная для графического определения полярных координат нормалей к отражающим плоскостям ф и р из положения дифракционных максимумов с теми же индексами. [c.206] Вернуться к основной статье