ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Анализ точечной электронограммы и определение ориентировки кристалла из "Рентгенографический и электроннооптический анализ Издание 2" Узлы обратной решетки могут быть размыты в одном направлении из-за того, что кристалл имеет небольшую толщину. Так как длина волны ( ) электронов мала, сфера отражения имеет очень малую кривизну возле узла ООО и может быть представлена как плоскость. Кроме того, условие интерференции смягчается в связи с тем, что сфера отражения может иметь конечную толщину из-за расходимости пучка электронов и их некоторой немонохроматичности. Основной причиной образования большого числа рефлексов на точечных электронограммах чаще всего является мозаичность реальных монокристальных образцов. [c.244] Около схем приведены дифракционные классы симметрии кристаллов, для которых данная симметрия является наивысшей в этих случаях направление первичного пучка электронов должно совпадать с соответ ствующим главным направлением в кристалле. [c.245] таким образом, заданы индексы двух узловых прямых, то, пользуясь ими как координатными осями, можно определить индексы любого узла (рис. 135). [c.246] Следует помнить, что в плоскости обратной рещетки могут располагаться лишь такие узлы, индексы которых (HKL) содержат только две независимые переменные. В случае, если плоскость является координатной, третий индекс равен нулю если плоскость не координатная, то индексы ее узлов связаны между собой каким-либо уравнением (рис. 135, б). [c.246] Точечные электронограммы обозначают общим символом рефлексов отражающих плоскостей (например, НК1, НКО и т.д.), индексами оси зоны [uvw] или индексами направления обратной решетки, перпендикулярного изображаемой плоскости обратной решетки. [c.246] Знания индексов двух направлений в плоскости обратной решетки, достаточно для определения ориентировки кристалла. Часто ограничиваются установлением оси зоны [uvw]. [c.246] Анализ симметрии точечной электронограммы объекта, структура которого известна, часто позволяет непосредственно, т. е, без дополнительных расчетов, определить ориентировку объекта. Для такого анализа можно использовать заранее рассчитанные и вычерченные в масштабе сетки обратной решетки для данной структуры, размеров ячейки и постоянной электронографа. В приложении 48 приведены некоторые сетки для кубических, о. ц. к. и г. ц. к. решеток, а также для гексагональной компактной решетки (с/а= 1,63). [c.248] Условия получения электронограммы. [c.249] Вернуться к основной статье