ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Анализ электроннооптического контраста в изображениях включений (анализ гетерогенного сплава) из "Рентгенографический и электроннооптический анализ Издание 2" Включения таких частиц будут изменять интенсивности в большей степени при такой толщине фольги или в тех участках фольги переменной толщины, где интенсивность особенно резко изменяется с изменением толщины 7 /7 о= /4, U- (см. рис. 165). В связи с этим явлением следует ожидать существенный дифракционный контраст от пустот, для которых Гд = 00. Таким образом, по обе стороны от эк-стинкционной полосы частицы должны иметь обратный контраст. Зная, в каком направлении изменяется толщина фольги, можно судить о природе включений, т.е. о соотношении структурных факторов матрицы и включения. [c.296] Г — расстояние экстинкции для включения (см. табл. 34 приложений). Достаточный контраст соответствует 0,1. Расчет для пустот в меди при отражении [111] дает /imin = = 15 А. [c.297] Поскольку смещения в матрице и в частице радиальны, атомная плоскость, проходящая через центр включения, не искривляется. Поэтому если кристалл расположен возле любого вульф-брегговского положения, в изображении через центр частицы должна проходить область нулевого контраста (перпендикулярно г ). При изменении действующего отражения соответственно поворачивается область нулевого контраста (см. рис. 166). [c.297] По существу тот же тип контраста возникает и при пластинчатой форме частицы, хотя количественный его анализ затруднителен. [c.298] В заключение следует отметить, что в реальных изображениях может действовать несколько механизмов контраста. [c.298] Сравнительно крупные некогерентные выделения карбидных или других фаз металлических сплавов, которые имеют более низкую симметрию решетки, либо имеют большой размер ячейки и характеризуются большим числом отражающих положений по сравнению с числом таких положений для типичных металлических решеток. Поэтому в электроннооптических изображениях частицы этих фаз обычно кажутся непрозрачными — темными в светлопольиых изображениях. [c.298] Вайнштейн Б, К. Структурная электронография. Изд-во АН СССР, 1956. Панченко Е. В., С к а к о в Ю. А. и др. Лаборатория металлографии. Металлургиздат, 1965. [c.298] П и н с к е р 3. Дифракция электронов, Изд-во АН СССР, 1949. [c.298] Вернуться к основной статье