ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Фотоэлектрические методы из "Основы спектрального анализа" Как видно из этой таблицы, относительные расхождения результатов химического и спектрального анализов редко превышают 1 %, и такой анализ по точности приблин ается к лучшим фотоэлектрическим методам. [c.191] Однако для получения такой точности нужны очень хорошие фотоматериалы и очень строгая стапдартизация пх обработки. [c.191] Анализы других сплавов также характеризуются ошибкой около 1 %, обычно возрастающей ири очень малых значениях определяемых концентраций. Так, например, при определении хрома и марганца в легированных сталях с помощью установки ФЭС-1 в области концентрации легирующих элементов 1—20% получена относительная погрешность определения около 1,5% [11.15]. При концентрации хрома и марганца около 0,04% погрешность их определения на этом приборе возрастает до 10—15%, так как эти коп-цептрации находятся уже вблизи границы чувствительности применявшегося метода. [c.192] Вернуться к основной статье