ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАЛЫХ ПРИМЕСЕИ Задачи и принципы анализа чистых веществ из "Основы спектрального анализа" Применение скользящей искры. Существенно другие условия имеют место при возбуждении спектра образца скользящей искрой методы анализа трудновозбудимых примесей с применением этого источника се11час разрабатываются главным образом группой французских исследователей [12.20]. [c.211] Насколько можно судить по литературным данным, анализы с помощью скользящей искры не дают пока большой точности. Применение скользящей искры и фотографической регистрации спектра позволяет проникнуть в область более коротковолнового ультрафиолета, чем это может быть сделано с помощью вакуумного фотоэлектрического прибора ДФС-31, возможности которого ограничены пропусканием окон фотоумножителей. [c.212] Однако точность анализов при применении приборов типа ДФС-31 с использованием дуги и более длинноволновой области спектра должна быть выше той, которую можно достичь при применении скользящей искры с фотографической регистрацией. [c.212] Применение скользящей искры, вероятно, целесообразно только тогда, когда это необходимо для повышения чувствительности определения некоторых элементов. [c.212] В последнее время был разработан низковольтный импульсный источник, обеспечивающий получение интенсивных спектров в вакуумной. области [12.40]. По-видимому, он окажется удобным для анализа с использованием этой области спектра. [c.212] В связи с развитием новых областей техники, в первую очередь атомной промышленности, а затем производства полупроводниковых материалов, ряда материалов для электронных приборов и некоторых других изделий существенно изменились требования к чистоте. Это относится не только к самим материалам, но и к реактивам, участвующим в процессе их производства. [c.213] Как уже говорилось, относительная чувствительность обычных методов спектрального анализа оценивается величиной 10 — 10 %. Требования к чистоте атомных материалов обычно на 1—2 порядка выше, а в полупроводниковых материалах допускается содержание в сотни раз меньших количеств примесей, чем в атомных. Поэтому чувствительность обычных спектральных методов оказалась недостаточной для анализа такого рода материалов. За последние 20 лет разрабатывались и разрабатываются сейчас специальные методы анализа особо чистых веществ. С их помощью уже сейчас разрешено большое количество важных задач, хотя далеко не во всех случаях, в особенности нри анализе полупроводниковых материалов, удалось достичь нужной чувствительности. [c.213] Рассмотрение всех применяемых методов обогащения не входит в нашу задачу. В большинстве случаев применяются различные химические или физико-химические приемы, выбор которых очень велик и разнообразен. Мы ограничимся только теми из них, которые широко вошли в практику спектрального анализа и являются типичными для широкого класса аналитических задач. [c.213] Вернуться к основной статье