Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Измерение длин волн по расстояниям на фотоэмульсии. Для определения длины волны неизвестной линии измеряют расстояния от нее до ближайших двух или трех линий в спектре сравнения и по интерполяционным формулам вычисляют длину волны.

ПОИСК





Измерение длин волн по расстояниям на фотоэмульсии

из "Техника и практика спектроскопии"

Измерение длин волн по расстояниям на фотоэмульсии. Для определения длины волны неизвестной линии измеряют расстояния от нее до ближайших двух или трех линий в спектре сравнения и по интерполяционным формулам вычисляют длину волны. [c.281]
В процессе химической обработки эмульсионный слой деформируется. Однако равномерная деформация не сказывается на точности измерений, так как в равной степени искажается и исследуемый спектр и спектр сравнения. В измерения вносит погрешности лишь неравномерность усадки эмульсии. Для фотографических пленок деформации более заметны, чем для пластинок. Поэтому все точные работы по измерению длин волн рекомендуется проводить с использованием пластинок. Для важных измерений не следует пользоваться краевыми участками пластинок, где эмульсия более неоднородна по толщине. Ошибки, связанные с неравномерностью деформации эмульсии, тем меньше, чем ближе измеряемые линии к линии сравнения. [c.281]
К сожалению, в некоторых исследованиях приходится применять пленки из-за отсутствия пластинок с соответствующей эмульсией, или вследствие большой кривизны фокальной поверхности прибора. Насколько нам известно, специальных исследований о вносимых при этом ошибках проведено не было. Однако можно быть уверенным, что для измерения с точностью до 0,1 А с использованием спектра железа в качестве спектра сравнения деформация пленки заметных ошибок не внесет. При измерениях с точностью до 0,01 А это следует проверять в каждом конкретном случае, так как сорт пленки и режим ее обработки и сушки могут оказать решающее влияние, когда речь идет о микронных деформациях. Даже различное натяжение пленки в разных участках кассеты может, вероятно, вызвать недопустимо большие ошибки. Измерение контрольных линий с известной длиной волны позволяет установить наличие систематических ошибок такого рода. [c.281]


Вернуться к основной статье


© 2024 chem21.info Реклама на сайте