Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Статистическая ошибка счета при съемке с ионизационной регистрацией интенсивности зависит от общего числа импульсов в секунду для максимума кривой интенсивности (включая фон), Пош и уровня фона, выраженного в импульсах в секунду, Пф ,.

ПОИСК





Поправка на статистическую ошибку счета

из "Рентгеноструктурный анализ"

Статистическая ошибка счета при съемке с ионизационной регистрацией интенсивности зависит от общего числа импульсов в секунду для максимума кривой интенсивности (включая фон), Пош и уровня фона, выраженного в импульсах в секунду, Пф ,. [c.47]
Иа графике рис. 5 приведена зависимость средней относительной ошибки от общего чпсла зарегистироиаииых импульсов. Отдельные кривые па графике соответствуют различным значениям Н. [c.47]
При съемке с очень низким уровнем фона, например при применении монохроматоров, можно пользоваться кривой, соответствующей Л — оо. [c.48]
Поправка на статистическую ошибку счета при съемке на дифрактометре. [c.48]
Колебания интенсивности при съемке с ионизационной регистрацией существенно зависят от размера кристаллитов. [c.48]
Иа графике рис. 6 показапа зависимость средней относительной ошибки при измерения интенсивности от размера кристаллитов для материа.тов с различными коэффициентами ослабления [х. [c.48]
График применим для достаточно толстых образцов, как правило при съемке на отражение. [c.49]


Вернуться к основной статье


© 2025 chem21.info Реклама на сайте