ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Исследование структуры волокон с применением фазово-контрастных устройств из "Свойства химических волокон и методы их определения" Большое практическое значение для исследования структуры волокон имеет применение фазово-контрастных устройств, которые позволяют получать более контрастные изображения, где темные и светлые места соответствуют различной толщине или оптической плотности препарата. Применение фазово-контрастных устройств выявляет более тонкую структуру волокон. [c.36] В передней фокальной плоскости конденсора 3 вместо апертурной диафрагмы устанавливается кольцеобразная диафрагма 4, которая конденсором и объективом изображается в задней фокальной плоскости объектива 2. Здесь помещена фазовая пластинка 1, представляющая собою фазовое кольцо, нанесенное на поверхности линзы вблизи заднего фокуса объектива. Это кольцо поглощает значительную часть света, прямо прошедшего через препарат, и сдвигает его фазу, т. е. обусловливает запаздывание (негативный контраст) или опережение (позитивный контраст) во времени на четверть длины световой волны Ч к). Свет, рассеянный, диафрагмированный, препаратом (пунктирные линии), проходит мимо фазового кольца и не претерпевает дополнительного сдвига фазы. Таким образом фазово-контрастное устройство ослабляет интенсивность и задерживает яркий нулевой дифракционный спектр, не внося каких-либо изменений в остальные спектры, благодаря чему в неокрашенных прозрачных объектах становится хорошо видна их структура. Темные и светлые места в фазово-контрастном изображении соответствуют различной толщине или оптической плотности препарата. Для преобразования невидимого фазового изображения препарата в обычное видимое изображение применяются фазовоконтрастное приспособление КФ-4 и фазовотемнопольное приспособление МФА-2, которые устанавливают на микроскопах вместо обычного конденсора. [c.37] Конструкция фазово-темнопольного устройства МФА-2 аналогична конструкции устройства КФ-4 и отличается от него лишь способом нанесения фазовых колец в объективах и их размером. Кроме того, устройство МФА-2 дает негативное изображение и имеет повышенную разрешающую способность. Это устройство применяется только при исследовании очень тонких и малых объектов и в тех случаях, когда применение устройства КФ-4 не дает контрастности и четкости изображения. [c.39] На рис. 36 показаны поперечные срезы полинозного волокна, полученные с применением обычного метода (а), при помощи фазово-контрастного устройства КФ-4 (б) и фазово-темнопольного устройства МФА-2 (в). [c.39] Вернуться к основной статье