ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Электронная микроскопия из "Физико-химические основы производства искусственных и синтетических волокон" Световая микроскопия широко применяется при исследовании морфологии волокон для установления особенностей макроструктуры (геометрия поперечного среза, размеры оболочки и ядра, по-разному окрашиваемых при сорбции — десорбции красителя, и т. п.). Однако изучение более тонкой структуры волокон затруднено из-за того, что световая микроскопия имеет определенную разрешающую способность, которая не превышает 2—3 мкм, хотя теоретическая разрешающая способность должна приближаться к полудлине волны используемого света. О дифракции поляризованного света уже говорилось выше. Наблюдение формы структурных объектов в микроскопе возможно при размерах этих элементов значительно больших, чем теоретическая разрешающая способность. [c.238] Поэтому для изучения формы и размеров элементов надмолекулярной структуры полимеров используется электронный микроскоп, действие которого основано на принципе поглощения или рассеяния электронов (прямая электронная микроскопия или электронография), длина волны которых в несколько сот тысяч раз меньше длины волны видимого света. Разрешающая способность современных электронных микроскопов достигает нескольких ангстрем. Практически (с учетом недостаточно высокого различия в электронных плотностях полимеров) разрешение составляет 10—30 А. Техника прямого рассмотрения объектов, контрастирования их и получения с них реплик, а также детали устройства современных микроскопов подробно описаны в литературе, а конкретные примеры электронно-микроскопических фотографий приводятся в гл. И. Поэтому здесь следует обратить внимание только на те ограничения, которые необходимо принимать во внимание при интерпретации и оценке результатов электронно-микроскопических исследований. [c.238] Следует иметь в виду, что при высокой разрешающей способности поле зрения электронного микроскопа очень мало, что не позволяет оценивать структуру всего материала на основании одного снимка. Вообще при оценке форм и размеров (это касается не только электронномикроскопических наблюдений, но и других методов, разрешающих отдельные элементы структуры) следует проводить статистические подсчеты с достаточно большим объемом выборки. [c.238] Кроме того, необходимо всегда учитывать возможность искажения истинной картины из-за возникновения артефактов при препарировании образца. Например, при получении тонких слоев (срезов) волокон наложение внешнего силового поля (воздействие режущего инструмента) на поле внутренних напряжений, сохранившихся в волокне, может дать отражение этих напряжений, а не истинную картину надмолекулярной структуры полимера в волокне. [c.238] И наконец, надо учитывать вероятность искажения формы из-за частичного разрушения объекта под действием электронного пучка. При достаточно большой толщине объекта, превышающей 0,05—0,1 мкм, поглощение электронов приводит к разогреву образца и термическим преобразованиям (аморфизация, плавление, усадка, возгонка компонентов и т. п.). [c.238] Например, образование поперечных штрихов на срезах продольно ориентированных вискозных волокон (см. рис. 10.7) не обязательно должно быть истолковано как отражение тонкой структуры целлюлозного волокна Они могут быть вызваны поверхностным разрушением полимера при одновременном влиянии релаксации впутреиних напряжений, сохранившихся в волокне при его препарировании. [c.240] Вернуться к основной статье